สภาวิศวกร

สาขา : เหมืองแร่

วิชา : Materials Characterization

เนื้อหาวิชา : 516 : Basic Chemical analysis and spectroscopic techniques
ข้อที่ 1 :
  • ข้อใดไม่ใช่ application ของสารประกอบเชิงซ้อน
  • 1 : การวิเคราะห์ปริมาณโลหะอิออนด้วยเทคนิค Complexometric Titration
  • 2 : การวิเคราะห์ปริมาณโลหะอิออนด้วยเทคนิค UV-VIS Spectrometry
  • 3 : การวิเคราะห์ปริมาณโลหะอิออนด้วยเทคนิค Atomic Absorption Spectroscopy
  • 4 : การวิเคราะห์ปริมาณโลหะอิออนด้วยเทคนิค Colorimetry
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 2 :
  • ข้อใดไม่ใช่สมบัติของตัวทำละลายสำหรับการแยกสกัดสาร
  • 1 : ต้องไม่ละลายในตัวทำละลายเดิม
  • 2 : ต้องมี Polarity ใกล้เคียงตัวทำละลายเดิม
  • 3 : ต้องเบากว่าตัวทำละลายเดิม
  • 4 : ต้องมีความสามารถในการละลายสารนั้นได้ดีกว่าตัวทำละลายเดิม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 3 :
  • ข้อใดไม่ใช่สมบัติของ Non-solvent สำหรับการตกตะกอนแยกสาร
  • 1 : ต้องละลายในตัวทำละลายเดิม (Miscible solvents)
  • 2 : ต้องเบากว่าตัวทำละลายเดิม
  • 3 : ต้องมี Polarity ใกล้เคียงตัวทำละลายเดิม
  • 4 : ต้องมีความสามารถในการละลายสารนั้นได้น้อยกว่าตัวทำละลายเดิม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 4 :
  • กรดไฮโดรคลอริคมีน้ำหนักโมเลกุล 36.5 อยากทราบว่า 1 กรัมสมมูลย์หนักเท่าไร
  • 1 : 36.5 กรัม
  • 2 : 35.6 กรัม
  • 3 : 73.0 กรัม
  • 4 : 18.25 กรัม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 5 :
  • KMnO4 มีน้ำหนักโมเลกุล 157.93 อยากทราบว่า 1 กรัมสมมูลย์ของ KMnO4 ในปฏิกิริยา 2KMnO4 + 10FeSO4 + 8 H2SO4 = 2MnSO4 + 5Fe2(SO4)3 + K2SO4 + 8H2O มีน้ำหนักเท่าไร
  • 1 : 157.93 กรัม
  • 2 : 31.58 กรัม
  • 3 : 15.79 กรัม
  • 4 : 47.38 กรัม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 6 :
  • FeSO4 มีน้ำหนักโมเลกุล 151.85 อยากทราบว่า 1 กรัมสมมูลย์ของ FeSO4 ในปฏิกิริยา 2KMnO4 + 10FeSO4 + 8 H2SO4 = 2MnSO4 + 5Fe2(SO4)3 + K2SO4 + 8H2O มีน้ำหนักเท่าไร
  • 1 : 151.85 กรัม
  • 2 : 303.70 กรัม
  • 3 : 75.92 กรัม
  • 4 : 227.77 กรัม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 7 :
  • Na2C2O4 มีน้ำหนักโมเลกุล 134.0 อยากทราบว่า 1 กรัมสมมูลย์ของ Na2C2O4 ในปฏิกิริยา 2KMnO4 + 5Na2C2O4 + 3H2SO4 = 2MnSO4 + 10CO2+ K2SO4 + 8H2O มีน้ำหนักเท่าไร
  • 1 : 134.0 กรัม
  • 2 : 268.0 กรัม
  • 3 : 67.0 กรัม
  • 4 : 201.0 กรัม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 8 :
  • หาก KMnO4 เกิดปฏิกิริยารีดอกซ์แล้วได้ Mn2+ เป็นผลิตภัณฑ์ อยากทราบว่าด่างทับทิม 1 กรัมสมมูลย์มีน้ำหนักเท่าไร กำหนดน้ำหนักโมเลกุลด่างทับทิมเท่ากับ 158.04
  • 1 : 158.04 กรัม
  • 2 : 31.61 กรัม
  • 3 : 79.02 กรัม
  • 4 : 15.80 กรัม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 9 :
  • หาก K2Cr2O7 ซึ่งมีน้ำหนักโมเลกุล 294.21 เกิดปฏิกิริยารีดักชันได้ Cr3+ อยากทราบว่าโปแตสเซียมไดโครเมท 1 กรัมสมมูลย์หนักเท่าไร
  • 1 : 294.21 กรัม
  • 2 : 147.10 กรัม
  • 3 : 98.07 กรัม
  • 4 : 29.42 กรัม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 10 :
  • หาก Na2C2O4 ซึ่งมีน้ำหนักโมเลกุล 134.0 เกิดปฏิกิริยารีดักชันได้ CO2 อยากทราบว่าโซเดียมออกซาเลท 1 กรัมสมมูลย์หนักเท่าไร
  • 1 : 134.0 กรัม
  • 2 : 67.0 กรัม
  • 3 : 44.7 กรัม
  • 4 : 13.4 กรัม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 11 :
  • จากปฏิกิริยา K2Cr2O7 + 4H2SO4 + 3H2S = Cr2(SO4)3 + 7H2O + 3S + K2SO4 อยากทราบว่าโปแตสเซียมไดโครเมท 1 กรัมสมมูลย์ในปฏิกิริยานี้มีน้ำหนักเท่าไร กำหนด MW ของ K2Cr2O7 = 294.21
  • 1 : 294.21 กรัม
  • 2 : 147.10 กรัม
  • 3 : 98.07 กรัม
  • 4 : 73.55 กรัม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 12 :
  • จากปฏิกิริยา K2Cr2O7 + 4H2SO4 + 3H2S = Cr2(SO4)3 + 7H2O + 3S + K2SO4 อยากทราบว่าไฮโดรเจนไดซัลไฟด์ 1 กรัมสมมูลย์ในปฏิกิริยานี้มีน้ำหนักเท่าไร กำหนด MW ของ H2S = 34.0
  • 1 : 34.0 กรัม
  • 2 : 17.0 กรัม
  • 3 : 5.67 กรัม
  • 4 : 11.33 กรัม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 13 :
  • จากปฏิกิริยา K2Cr2O7 + 4H2SO4 + 3H2S = Cr2(SO4)3 + 7H2O + 3S + K2SO4 อยากทราบว่าไฮโดรเจนไดซัลไฟด์ 1 กรัมสมมูลย์ในปฏิกิริยานี้ มีน้ำหนักเท่าไร กำหนด MW ของ H2S = 34.0
  • 1 : 34.0 กรัม
  • 2 : 17.0 กรัม
  • 3 : 11.33 กรัม
  • 4 : 5.67 กรัม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 14 :
  • จากปฏิกิริยา K2Cr2O7 + 4H2SO4 + 3H2S = Cr2(SO4)3 + 7H2O + 3S + K2SO4 อยากทราบว่า K2Cr2O7 1 กรัมสมมูลย์ ในปฏิกิริยานี้มีน้ำหนักเท่าไร กำหนด MW ของ K2Cr2O7 = 294.21
  • 1 : 294.21 กรัม
  • 2 : 147.10 กรัม
  • 3 : 98.07 กรัม
  • 4 : 73.55 กรัม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 15 :
  • ในการ Standardize หาความเข้มข้นของสารละลายมาตรฐาน KMnO4 นิยมใช้สารประกอบข้อใดเป็นสารสอบเทียบ
  • 1 : โซเดียมออกซาเลตในสารละลายกรด
  • 2 : โซเดียมออกซาเลตในสารละลายด่าง
  • 3 : ไอโอดีนในสารละลายกรด
  • 4 : โซเดียมไธโอซัลเฟต
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 16 :
  • ในการ Standardize หาความเข้มข้นของสารละลายมาตรฐานไอโอดีน นิยมใช้สารประกอบข้อใดเป็นสารสอบเทียบ
  • 1 : โซเดียมไธโอซัลเฟตในกรดอ่อน
  • 2 : โซเดียมไธโอซัลเฟตในกรดแก่
  • 3 : โซเดียมไธโอซัลเฟตในด่าง
  • 4 : โซเดียมออกซาเลตในกรดอ่อน
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 17 :
  • ในการ Standardize หาความเข้มข้นของสารละลายมาตรฐานโซเดียมไธโอซัลเฟต นิยมใช้สารประกอบข้อใดเป็นสารสอบเทียบ
  • 1 : สารละลายไอโอดีนที่เตรียมจากเกล็ดไอโอดีนโดยตรง
  • 2 : สารละลายไอโอดีนที่สารละลายไอโอดีนที่ได้จาก โลหะทองแดงบริสุทธิ์ ทำปฏิกิริยากับ KI
  • 3 : สารละลายไอโอดีนที่สารละลายไอโอดีนที่ได้จากโลหะเงิน ทำปฏิกิริยากับ KI
  • 4 : สารละลายไอโอดีนที่สารละลายไอโอดีนที่ได้จากโลหะสังกะสี ทำปฏิกิริยากับ KI
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 18 :
  • ในการวิเคราะห์ปริมาณ Cu ในทองเหลือง วิธีใดต่อไปนี้วิเคราะห์ไม่ได้
  • 1 : Electrolysis
  • 2 : Redox Titration
  • 3 : Complexometic Titration
  • 4 : Spectrometric
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 19 :
  • ในการวิเคราะห์ปริมาณ Zn ในทองเหลือง วิธีใดต่อไปนี้วิเคราะห์ไม่ได้
  • 1 : Gravimetric
  • 2 : Redox Titration
  • 3 : Spectrometric
  • 4 : Precipitation Titration
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 20 :
  • ในการวิเคราะห์ปริมาณ Pb ในทองเหลือง วิธีใดต่อไปนี้วิเคราะห์ไม่ได้
  • 1 : Redox Titration
  • 2 : Complexometric Titration
  • 3 : Gravimetric
  • 4 : Electrolysis
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 21 :
  • หากต้องการวิเคราะห์หาปริมาณตะกั่วในทองเหลืองด้วยเทคนิค การตกตะกอน ควรใช้สารใดเป็น precipitant
  • 1 : HCl
  • 2 : H2SO4
  • 3 : CH3COOH
  • 4 : HNO3
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 22 :
  • หากต้องการวิเคราะห์หาปริมาณตะกั่วในทองเหลืองด้วยเทคนิค การตกตะกอน เมื่อกรองตะกอนได้แล้วต้องทำอย่างไรก่อนชั่งน้ำหนัก
  • 1 : อบที่ 110 องศาเซลเซียส จนน้ำหนักไม่เปลี่ยนแปลง
  • 2 : อบที่ 90 องศาเซลเซียส จนน้ำหนักไม่เปลี่ยนแปลง
  • 3 : อบที่ 120 องศาเซลเซียส จนน้ำหนักไม่เปลี่ยนแปลง
  • 4 : Ignition ที่ 900 - 1000 องศาเซลเซียส จนน้ำหนักไม่เปลี่ยนแปลง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 23 :
  • หากต้องการวิเคราะห์ปริมาณตะกั่วในทองเหลืองด้วยเทคนิค Titration ควรใช้สารใดเป็นอินดิเคเตอร์
  • 1 : Methyl Orange
  • 2 : Xylenol Orange
  • 3 : Calcon
  • 4 : Starch-Iodine
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 24 :
  • หากต้องการวิเคราะห์ปริมาณ Cu ในทองเหลือง ด้วยเทคนิค Titration ควรใช้สารใดเป็นอินดิเคเตอร์
  • 1 : Xylenol Orange
  • 2 : Methyl Orange
  • 3 : Stach-Iodine
  • 4 : Calceine
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 25 :
  • หากต้องการวิเคราะห์ปริมาณ Sn ในทองเหลืองด้วยเทคนิค Titration ควรใช้สารใดเป็นอินดิเคเตอร์
  • 1 : Xylenol Orange
  • 2 : Starch-Iodine
  • 3 : KMnO4 Self Indicator
  • 4 : Calcon
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 26 :
  • หากต้องการวิเคราะห์ปริมาณ Fe ในทองเหลือง ด้วยเทคนิค Titration ควรใช้สารใดเป็นอินดิเคเตอร์
  • 1 : Methyl Orange
  • 2 : Xylenol Orange
  • 3 : KMnO4 Self Indicator
  • 4 : Starch- Iodine
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 27 :
  • ข้อใดคือหลักการคำนวณผลการวิเคราะห์ Redox Titration
  • 1 : 1000 ml 1M Titrant = 1 gram equivalent of element
  • 2 : 1000 ml 1N Titrant = 1 gram equivalent of element
  • 3 : 1000 ml 1M Titrant = 1 gram mole of element
  • 4 : 1000 ml 1N Titrant = 1 gram mole of element
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 28 :
  • ข้อใดคือหลักการคำนวณผลการวิเคราะห์ Complexometric Titration
  • 1 : 1000 ml 1 M Titrant = 1 gram mole of element
  • 2 : 1000 ml 1 N Titrant = 1 gram mole of element
  • 3 : 1000 ml 1 M Titrant = 1 gram equivalent of element
  • 4 : 1000 ml 1 N Titrant = 1 gram equivalent of element
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 29 :
  • ในการซื้อขายแมงกานีสไดออกไซด์เพื่อใช้ในการผลิตแบตเตอรีแบบถ่านไฟฉายดั้งเดิม ผู้ซื้อจะสนใจเฉพาะ %MnO2 ไม่สนใจว่าแร่นั้นมี Total Mn เท่าไร อยากทราบว่าควรวิเคราะห์ด้วยวิธีใด
  • 1 : ละลายแร่ กรอง แล้วนำไปไตเตรตกับโซเดียมออกซาเลต
  • 2 : ชั่งแร่ใส่บีกเกอร์ แล้วให้ทำปฏิกิริยาโดยตรงกับโซเดียมออกซาเลตปริมาณมากเกินพอ แล้วไตเตรตหาโซเดียมออกซาเลตที่เหลือด้วยสารละลายมาตรฐาน KMnO4
  • 3 : ละลายแร่ กรอง แล้วนำไปออกซิไดส์ด้วยโซเดียมบิสมิวเตตให้อยู่ในรูปของ Mn7+ แล้วจึงไตเตรตด้วยสารละลายมาตรฐาน FeSO4
  • 4 : ละลายแร่ กรอง แล้วนำไปไตเตรตกับโซเดียมบิสมิวเตต
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 30 :
  • ในการซื้อขายแร่แมงกานีสหากต้องการทราบว่าแร่นั้นมี Total Mn เท่าไร ควรวิเคราะห์ด้วยวิธีใด
  • 1 : ละลายแร่ กรอง แล้วนำไปไตเตรตกับโซเดียมออกซาเลต
  • 2 : ละลายแร่ กรอง แล้วนำไปไตเตรตกับโซเดียมบิสมิวเตต
  • 3 : ละลายแร่ กรอง แล้วนำไปออกซิไดส์ด้วยโซเดียมบิสมิวเตตให้อยู่ในรูปของ Mn7+ แล้วจึงไตเตรตด้วยสารละลายมาตรฐาน FeSO4
  • 4 : ชั่งแร่ใส่บีกเกอร์ แล้วให้ทำปฏิกิริยาโดยตรงกับโซเดียมออกซาเลตปริมาณมากเกินพอ แล้วไตเตรตหาโซเดียมออกซาเลตที่เหลือด้วยสารละลายมาตรฐาน KMnO4
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 31 :
  • ข้อใดอธิบายการวิเคราะห์ Iodine Methode ไม่ถูกต้อง
  • 1 : การวิเคราะห์แบบ Direct Titration คือ ใช้สารละลายไอโอดีน เป็นไตแตรนท์ เราสามารถใส่น้ำแป้งได้ตั้งแต่ต้น
  • 2 : การวิเคราะห์แบบ Direct Titration คือ ใช้สารละลายไอโอดีน เป็นไตแตรนท์ ไม่นิยมใส่น้ำแป้งตั้งแต่ต้น
  • 3 : การวิเคราะห์แบบ Indirect Titration คือ ไอโอดีนเป็นตัวทำปฏิกิริยากับไตแตรนท์ ไม่นิยมใส่น้ำแป้งตั้งแต่ต้น
  • 4 : การวิเคราะห์ปริมาณดีบุกในสารละลายด้วย Iodine Methode เราสามารถใส่น้ำแป้งได้ตั้งแต่ต้น
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 32 :
  • จากค่า Eo ของปฏิกิริยา MnO4- + 8H+ + 5e- = Mn2+ + 4H2O;    Fe3+ + 2e- = Fe2+ และปฏิกิริยา   Cl2 + 2e- = 2Cl- เท่ากับ 1.51V; 0.771 V และ 1.36 V ตามลำดับ      ข้อใดกล่าวไม่ถูกต้อง หากไตเตรต    สารละลายเหล็กด้วย KMnO4 โดยมิได้เติม Zimmermann Reagent
  • 1 : Cl2 จะ oxidize Mn2+ เป็น Mn7+
  • 2 : Cl2 จะ reduce Mn7+ เป็น Mn2+
  • 3 : KMnO4 จะ oxidize ทั้ง Cl2 และ Fe2+
  • 4 : สีเหลืองของ Fe3+ จะรบกวนสีของจุดยุติ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 33 :
  • จากค่า Eo ของปฏิกิริยา MnO4- + 8H+ + 5e- = Mn2+ + 4H2O และปฏิกิริยา Cl2 + 2e- = 2Cl- เท่ากับ 1.51 V และ 1.36 V ตามลำดับ จะเกิดอะไรขึ้นหากไตเตรตสารละลายเหล็กด้วย KMnO4 โดยมิได้เติม Zimmermann Reagent
  • 1 : จะใช้ KMnO4 น้อยกว่าที่ควร เนื่องจาก Cl2 จะ oxidize Mn2+ กลับเป็น Mn7+
  • 2 : จะใช้ KMnO4 มากกว่าที่ควร เนื่องจาก Cl2 จะ reduce Mn7+ เป็น Mn2+ ด้วย
  • 3 : Cl2 ไม่มีส่วนเกี่ยวข้องกับการไตเตรตนี้
  • 4 : Zimmermann Reagent ไม่มีส่วนเกี่ยวข้องกับการไตเตรตนี้
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 34 :
  • ในการวิเคราะห์ปริมาณทองแดงในโลหะผสม ควรละลายด้วยกรดใด
  • 1 : กรดไนตริก
  • 2 : กรดไฮโดรคลอริค
  • 3 : กรดซัลฟูริค
  • 4 : กรดกัดทอง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 35 :
  • ในการวิเคราะห์ปริมาณ Cu ในแร่ทองแดง ควรละลายด้วยกรดใด
  • 1 : กรดไนตริก
  • 2 : กรดไฮโดรคลอริค
  • 3 : กรดกัดทอง
  • 4 : กรดซัลฟูริค
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 36 :
  • ในการวิเคราะห์ปริมาณทองแดงในโลหะผสม ด้วยเทคนิคอิเลคโตรไลซิส โดยใช้สารละลายโลหะในกรดไนตริกเป็นอิเลคโทรไลต์ และใช้ Pt เป็นอิเลคโทรด อยากทราบว่าข้อใดกล่าวถูกต้อง
  • 1 : โลหะทองแดงจะไปสะสมที่ขั้วแคโทด
  • 2 : โลหะทองแดงจะไปสะสมที่ขั้วแอโนด
  • 3 : เกิดก๊าซ NO2 ที่ขั้วแอโนด
  • 4 : เกิดก๊าซ O2 ที่ขั้วแคโทด
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 37 :
  • หากต้องการเตรียมสารละลาย 0.1 N HNO3 ปริมาณ 500 ml จะต้องใช้กรดไนตริกเข้มข้นกี่มิลลิลิตร (ml) กำหนดกรดไนตริกเข้มข้น มีสมบัติดังนี้ HNO3 65% w/w น้ำหนักโมเลกุล 63 กรัม/โมล ความหนาแน่น 1.4 g/ml
  • 1 : 3.5 ml
  • 2 : 2.2 ml
  • 3 : 3.2 ml
  • 4 : 4.8 ml
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 38 :
  • หากต้องการเตรียมสารละลาย 0.1 N H2SO4 ปริมาณ 500 ml จะต้องใช้กรดซัลฟูริคเข้มข้นกี่มิลลิลิตร (ml) กำหนดกรดซัลฟูริค เข้มข้น มีสมบัติดังนี้ H2SO4 70% w/w น้ำหนักโมเลกุล 98.08 กรัม/โมล ความหนาแน่น 1.84 g/ml
  • 1 : 3.8 ml
  • 2 : 1.9 ml
  • 3 : 1.3 ml
  • 4 : 2.6 ml
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 39 :
  • หากต้องการเตรียมสารละลาย 0.1 N HCl ปริมาณ 500 ml จะต้องใช้กรดไฮโดรคลอริคเข้มข้นกี่มิลลิลิตร (ml) กำหนดกรดไฮโดรคลอริค เข้มข้น มีสมบัติดังนี้ HCl 33% w/w น้ำหนักโมเลกุล 36.5 กรัม/โมล ความหนาแน่น 1.2 g/cm3
  • 1 : 5.5 ml
  • 2 : 4.6 ml
  • 3 : 2.3 ml
  • 4 : 1.5 ml
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 40 :
  • หากต้องการเตรียมสารละลาย 0.1 M H2SO4 ปริมาณ 500 ml จะต้องใช้กรดซัลฟูริคเข้มข้นกี่มิลลิลิตร (ml) กำหนดกรดซัลฟูริคเข้มข้น มีสมบัติดังนี้ H2SO4 70% w/w น้ำหนักโมเลกุล 98.08 กรัม/โมล ความหนาแน่น 1.84 g/ml
  • 1 : 1.9 ml
  • 2 : 3.8 ml
  • 3 : 4.2 ml
  • 4 : 7.6 ml
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 41 :
  • หากต้องการเตรียมสารละลาย 0.1 M HNO3 ปริมาณ 500 ml จะต้องใช้กรดไนตริกเข้มข้นกี่มิลลิลิตร (ml) กำหนดกรดไนตริกเข้มข้น มีสมบัติดังนี้ HNO3 65% w/w น้ำหนักโมเลกุล 63 กรัม/โมล ความหนาแน่น 1.4 g/cm3
  • 1 : 3.5 ml
  • 2 : 2.8 ml
  • 3 : 3.2 ml
  • 4 : 4.2 ml
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 42 :
  • หากต้องการเตรียมสารละลาย 0.1 M HCl ปริมาณ 500 ml จะต้องใช้กรดไฮโดรคลอริคเข้มข้นกี่มิลลิลิตร (ml) กำหนดกรดไฮโดรคลอริค เข้มข้น มีสมบัติดังนี้ HCl 33% w/w น้ำหนักโมเลกุล 36.5 กรัม/โมล ความหนาแน่น 1.2 g/cm3
  • 1 : 4.6 ml
  • 2 : 2.3 ml
  • 3 : 3.2 ml
  • 4 : 6.4 ml
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 43 :
  • การวิเคราะห์ปริมาณธาตุแมงกานีสที่เจือปนอยู่ในปริมาณน้อยๆ ในสารละลายตัวอย่าง จำนวน 2 ตัวอย่าง ควรใช้เทคนิคใด
  • 1 : NMR
  • 2 : OES
  • 3 : ICP
  • 4 : AAS
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 44 :
  • ข้อใดเป็นส่วนประกอบจำเป็นของ Visible-Spectrometer
  • 1 : sodium lamp
  • 2 : x-ray source
  • 3 : tungsten lamp
  • 4 : deuterium lamp
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 45 :
  • ข้อใดไม่ใช่ส่วนประกอบของ UV - Vis spectrometer
  • 1 : nebulizer
  • 2 : light source
  • 3 : monochromator
  • 4 : detector
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 46 :
  • ข้อมูลใดไม่ถูกต้อง
  • 1 : AAS เกี่ยวข้องกับ absorption process
  • 2 : ICP เกี่ยวข้องกับ absorption และ emission process
  • 3 : AAS มี selectivity สูงกว่า ICP
  • 4 : AAS วิเคราะห์ได้ครั้งละ 1 ธาตุ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 47 :
  • เปรียบเทียบ UV - Vis spectrometer และ AAS ข้อใดถูกต้อง
  • 1 : AAS เตรียมตัวอย่างได้ยากกว่า
  • 2 : AAS เกี่ยวข้องกับการเปล่งแสงของอะตอม
  • 3 : UV - Vis เกี่ยวข้องกับการเปล่งแสงระดับโมเลกุลหรือสารประกอบ
  • 4 : AAS เตรียมตัวอย่างได้ง่ายกว่า
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 48 :
  • ข้อใดเป็นไปตาม Beer’s law
  • 1 : การดูดกลืนแสงแปรผกผันกับระยะทางที่แสงผ่าน
  • 2 : ความเข้มข้นของสารแปรตามปริมาณการดูดกลืนแสง
  • 3 : การดูดกลืนแสงไม่ขึ้นกับความยาวคลื่น
  • 4 : การดูดกลืนแสงแปรตามความเข้มข้นของสาร
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 49 :
  • การวิเคราะห์โดย UV - Vis spectrometer จะต้องใช้สารตัวอย่างที่มีลักษณะใด
  • 1 : ตัวอย่างที่นำมาเข้าเครื่องวัดต้องเป็นของเหลวหรือแก๊สที่มีสี
  • 2 : สารตัวอย่างที่นำมาเข้าเครื่องวัดต้องเตรียมเป็น complex ที่มีสีเสมอ
  • 3 : สารตัวอย่างที่นำมาเข้าเครื่องวัดจะต้องใส ไม่มีตะกอนหรือสารแขวนลอย
  • 4 : สารตัวอย่างที่นำมาเข้าเครื่องวัดต้องเป็นของเหลวบริสุทธิ์เท่านั้น
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 50 :
  • ข้อใดเป็นลักษณะของการวิเคราะห์โดย Visible - spectrometry .
  • 1 : สารละลายตัวอย่างที่นำมาเข้าเครื่องวัด โดยทั่วไปจะมีสี
  • 2 : สารละลายตัวอย่างที่นำมาเข้าเครื่องวัด จะมีสีหรือไม่มีสีก็ได้
  • 3 : จะต้องใช้ความยาวคลื่นอยู่ในช่วง 200 - 800 nm
  • 4 : จะต้องใช้ความยาวคลื่นอยู่ในช่วง 200 - 400 nm
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 51 :
  • ข้อแตกต่างระหว่าง Single beam Instrument และ Double beam Instrument
  • 1 : Double beam Instrument วัด blank และตัวอย่างในคราวเดียวกัน แต่ Single beam วัด blank และตัวอย่างคนละครั้ง
  • 2 : Single beam Instrument มีระบบทางเดินแสงซับซ้อนกว่า Double beam Instrument
  • 3 : Single beam Instrument วัดตัวอย่างได้ครั้งละ 1 ตัวอย่าง แต่ Double beam Instrument วัดตัวอย่างได้ครั้งละ 2 ตัวอย่าง
  • 4 : Single beam Instrument วัด blank และตัวอย่างในคราวเดียวกัน แต่ Double beam วัด blank และตัวอย่างคนละครั้ง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 52 :
  • ถ้านำสารละลาย A ความเข้มข้น 4 ppm (M.W. = 75) ไปวัดค่า absorbance ที่ความยาวคลื่น 620 nm ได้ค่า absorbance = 0.394 ระยะทางที่แสงผ่าน = 10 mm ค่า absorptivity ของสาร A จะมีค่าเท่าไร
  • 1 : 0.0985 litre/(mg-mm)
  • 2 : 0.0985 litre/(mg-cm)
  • 3 : 0.0985
  • 4 : 0.0985 mg/(litre-mm)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 53 :
  • ความแตกต่างที่ชัดเจนของ FAAS และ ICP คือ
  • 1 : monochromator
  • 2 : light source
  • 3 : read - out device
  • 4 : nebulizer
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 54 :
  • ข้อใดไม่ใช่ส่วนประกอบของเครื่อง ICP
  • 1 : monochromator
  • 2 : nebulizer
  • 3 : radio frequency generator
  • 4 : burner
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 55 :
  • แก๊สที่ใช้งานในระบบของเครื่อง ICP คือ
  • 1 : nitrous oxide
  • 2 : acetylene
  • 3 : propane
  • 4 : argon
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 56 :
  • AAS ใช้กับการวิเคราะห์แบบใด
  • 1 : Qualitative analysis
  • 2 : Quantitative analyais
  • 3 : Qualitative analysis and Quantitative analyais
  • 4 : Micro analysis
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 57 :
  • เครื่องมือวิเคราะห์ชนิดใดที่ต้องใช้แก๊สเชื้อเพลิง
  • 1 : UV - Vis spectrometer
  • 2 : EDX
  • 3 : FAAS
  • 4 : WDX
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 58 :
  • ข้อใดไม่ใช่เทคนิคของ Redox Titration
  • 1 : Direct Titration
  • 2 : Back Titration
  • 3 : Indirect Titration
  • 4 : Displacement Titration
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 59 :
  • ข้อใดไม่ใช่เทคนิคของ Complexometric Titration
  • 1 : Direct Titration
  • 2 : Indirect Titration
  • 3 : Displacement Titration
  • 4 : Back Titration
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 60 :
  • ข้อใดไม่ใช่เงื่อนไขที่จำเป็นสำหรับ Redox Direct Titration
  • 1 : ธาตุที่จะวิเคราะห์ต้องมีเลขออกซิเดชั่นตั้งแต่ 2 ค่าขึ้นไป
  • 2 : ธาตุที่จะวิเคราะห์ต้องเกิดออกซิเดชั่นได้ง่าย
  • 3 : ธาตุที่จะวิเคราะห์ต้องเกิดรีดักชั่นได้ง่าย
  • 4 : ต้องเกิดปฏิกิริยาเดียว ณ สภาวะที่ใช้ในการไตเตรต
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 61 :
  • ข้อใดไม่ใช่เงื่อนไขที่จำเป็นสำหรับ Redox Back titration
  • 1 : ธาตุที่จะวิเคราะห์ต้องเกิดรีดักชั่นได้ง่าย
  • 2 : ธาตุที่จะวิเคราะห์ต้องเกิดออกซิเดชั่นได้ง่าย
  • 3 : ธาตุที่จะวิเคราะห์ต้องมีเลขออกซิเดชั่นตั้งแต่ 2 ค่าขึ้นไป
  • 4 : ต้องเกิดปฏิกิริยาสมบูรณ์ ณ สภาวะที่ใช้ในการไตเตรต
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 62 :
  • ข้อใดไม่ใช่เงื่อนไขที่จำเป็นสำหรับการวิเคราะห์โลหะอิออนด้วยเทคนิค Complexometric Titration
  • 1 : โลหะที่จะวิเคราะห์ต้อง Form Complex กับ Titrant สัดส่วน 1:1 เสมอ
  • 2 : pH เป็นปัจจัยสำคัญ ต้องเลือกไตเตรตที่ pH เหมาะสม
  • 3 : pH ไม่ใช่ปัจจัยสำคัญ จะไตเตรตที่ pH ใดก็ได้
  • 4 : Titrant ที่นิยมใช้ใน Complexometric Titration คือ EDTA
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 63 :
  • ข้อใดอธิบายการไตเตรต Pb2+ ด้วยเทคนิค Complexometric ไม่ถูกต้อง
  • 1 : เป็น Direct Titration
  • 2 : สารประกอบเชิงซ้อน Pb-EDTA มีเสถียรภาพสูงกว่า Pb-Indicator
  • 3 : สารประกอบเชิงซ้อน Pb-EDTA มีเสถียรภาพต่ำกว่า Pb-Indicator
  • 4 : นิยมใช้ Xylenol Orange เป็นอินดิเคเตอร์
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 64 :
  • ในการไตเตรต Pb2+ ด้วย EDTA และใช้ Xylenol Orange เป็นอินดิเคเตอร์ หากสารละลาย Pb2+ สารละลาย EDTA และสารละลาย Pb-EDTA ไม่มีสี ขณะที่สารละลาย Xylenol Orange มีสีเหลือง และสารละลาย Pb-Xylenol Orange มีสีม่วงแดง อยากทราบว่าที่จุดยุติมีการเปลี่ยนแปลงสีอย่างไร
  • 1 : สีเหลือง เปลี่ยนเป็น สีม่วงแดง
  • 2 : สีม่วงแดง เปลี่ยนเป็น สีเหลือง
  • 3 : ไม่มีสี เปลี่ยนเป็น สีเหลือง
  • 4 : ไม่มีสี เปลี่ยนเป็น สีม่วงแดง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 65 :
  • ในการไตเตรต Fe3+ ด้วย EDTA โดยวิธี Back Titration และใช้ Pb2+/Xylenol Orange เป็น reagents สำหรับการไตเตรตย้อนกลับ หากสารละลาย Pb2+ สารละลาย EDTA สารละลาย Pb-EDTA และสารละลาย Fe-EDTA ไม่มีสี ขณะที่สารละลาย Xylenol Orange มีสีเหลือง และสารละลาย Pb-Xylenol Orange มีสีม่วงแดง อยากทราบว่าที่จุดยุติมีการเปลี่ยนแปลงสีอย่างไร
  • 1 : สีม่วงแดง เปลี่ยนเป็น สีเหลือง
  • 2 : สีเหลือง เปลี่ยนเป็น สีม่วงแดง
  • 3 : ไม่มีสี เปลี่ยนเป็น สีม่วงแดง
  • 4 : ไม่มีสี เปลี่ยนเป็น สีเหลือง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 66 :
  • ในการไตเตรตหาปริมาณ Al3+ และ Fe3+ ในสารละลาย Al3+ ซึ่งมี Fe3+ เป็นมลทิน ด้วยวิธี Displacement Complexometric Titration อยากทราบว่าข้อใดกล่าวไม่ถูกต้อง
  • 1 : เริ่มต้นด้วยการไตเตรตหาปริมาณ Al3+ + Fe3+ โดยวิธี Back Titration
  • 2 : หาปริมาณ EDTA ที่ทำปฏิกิริยาพอดีกับ Al3+ โดยการแทนที่ EDTA ใน Pb-EDTA ด้วย NaF
  • 3 : ไตเตรตหาปริมาณ EDTA ที่ทำปฏิกิริยาพอดีกับ Al3+ โดยใช้ Pb2+/Xylenol Orange System
  • 4 : ณ จุดยุติจะมีการเปลี่ยนแปลงสีจากสีม่วงแดงเป็นสีเหลือง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 67 :
  • ในการวิเคราะห์หาปริมาณ Fe3+ ในสารละลายกรด HCl ด้วย Direct Titration โดยใช้ KMnO4 เป็นไตแตรนท์ จะต้องเติม Zimmerman Reagent อยากทราบว่ากรณีที่เป็นสารละลาย Fe3+ ในกรด H2SO4 จะต้องเติม Zimmerman Reagent หรือไม่
  • 1 : ต้องเติม Zimmerman Reagent เสมอ ไม่ว่ากรณีใดๆ
  • 2 : ไม่จำเป็นต้องเติม Zimmerman Reagent แต่ต้องเติม H3PO4 2-3 หยดแทน
  • 3 : ไม่จำเป็นต้องเติม Zimmerman Reagent แต่ต้องเติม H2SO4 2-3 หยดแทน
  • 4 : ไม่จำเป็นต้องเติม Zimmerman Reagent ทำการไตเตรตได้เลย
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 68 :
  • ในการวิเคราะห์ Cu2+ ในสารละลายแร่หรือโลหะทองแดงด้วยวิธี Redox Indirect Titration ก่อนที่จะเติม KI เพื่อให้เกิด I2 นั้น จะต้องเติม NH4OH เพื่อกำจัด Fe3+ ที่เป็นมลทิน และปรับ pH กลับให้เป็นกรดอ่อนๆ อยากทราบว่าควรใช้อินดิเคเตอร์ใดในการระบุ pH ของสารละลาย
  • 1 : pH paper
  • 2 : ไม่ต้องใช้อินดิเคเตอร์ เนื่องจาก Cu2+ ในด่างมีสีน้ำเงิน แต่จะมีสีฟ้าในสารละลายกรด จึงเป็น Self Indication
  • 3 : Phenolpthalien
  • 4 : Methyl Orange
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 69 :
  • ในการไตเตรต Fe3+ ด้วย KMnO4 ควรใช้อะไรเป็นอินดิเคเตอร์
  • 1 : Methyl Orange
  • 2 : Xylenol Orange
  • 3 : Calcon
  • 4 : ไม่ต้องใช้ เนื่องจาก KMnO4 เป็น Self Indicator
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 70 :
  • ในการวิเคราะห์ปริมาณดีบุกด้วยวิธี Redox Titration โดยใช้สารละลายไอโอดีนเป็นไตแตรนท์ ควรใช้อะไรเป็นอินดิเคเตอร์
  • 1 : ไม่ต้องใช้ เนื่องจากไอโอดีนเป็น Self Indication
  • 2 : Starch-Iodine
  • 3 : Xylenol Orange
  • 4 : Calcon
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 71 :
  • ในการวิเคราะห์ปริมาณ Cu2+ ด้วยวิธี Indirect Redox Titration โดยไตเตรตปริมาณไอโอดีนที่เกิดขึ้นด้วยสารละลายโซเดียมไธโอซัลเฟต ควรใช้อะไรเป็นอินดิเคเตอร์ในการไตเตรต
  • 1 : ไม่ต้องใช้ เนื่องจากไอโอดีน เป็น Self Indicator
  • 2 : Starch-Iodine
  • 3 : Xylenol Orange
  • 4 : Calcon
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 72 :
  • ข้อใดไม่เกี่ยวข้องกับการวิเคราะห์หินปูน
  • 1 : การหยดกรดลงบนตัวอย่างหินแล้วเกิดฟองฟู่ แสดงว่าเป็นแร่คาร์บอเนต
  • 2 : อบที่ 105 องศาเซียลเซียส เพื่อหา Moisture Content
  • 3 : อบที่ 950 องศาเซียลเซียส เพื่อหา Ignition Loss
  • 4 : นิยมละลายด้วยวิธี Fusion
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 73 :
  • ข้อใดไม่เกี่ยวข้องกับการวิเคราะห์ดินขาว
  • 1 : เตรียมสารละลาย A (เพื่อหาองค์ประกอบที่ไม่ใช่ Alkali) โดยการ Fusion กับ NaOH
  • 2 : เตรียมสารละลาย B (เพื่อหาองค์ประกอบ Na และ/หรือ K) โดยเติมกรด HF ต้มไล่เพื่อกำจัด SiO2 แล้วจึงละลายด้วยกรดไนตริก
  • 3 : วิเคราะห์ TiO2 ด้วยเทคนิค UV-VIS Spectroscopy
  • 4 : วิเคราะห์ TiO2 ด้วยเทคนิค Redox Titration
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 74 :
  • ข้อใดไม่ใช่องค์ประกอบสำคัญของเครื่อง AA
  • 1 : Light Source
  • 2 : Atomizer
  • 3 : Monochromator
  • 4 : Torch
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 75 :
  • ข้อใดไม่ใช่องค์ประกอบของ UV-VIS Spectrometer
  • 1 : Light Source
  • 2 : Monochromator
  • 3 : Atomizer
  • 4 : Detector
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 76 :
  • ข้อใดไม่ใช่เทคนิคการผลิตพลาสมาสำหรับ Emission Spectroscopy
  • 1 : Direct Current Plasma
  • 2 : Inductively Coupled Plasma
  • 3 : Microwave Induced Plasma
  • 4 : Infrared Induced Plasma
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 77 :
  • ข้อใดอธิบายความเหมือนหรือต่างกันระหว่าง UV-VIS Spectroscopy กับ Colorimetry ไม่ถูกต้อง
  • 1 : ทั้ง 2 เทคนิคต่างเป็นการวิเคราะห์สารโดยอาศัย Interaction ระหว่าง Light กับ Matter
  • 2 : UV-VIS Spectroscopy ใช้วิเคราะห์ได้ทั้งสารละลายมีสีและไม่มีสี
  • 3 : Colorimetry ใช้วิเคราะห์ได้ เฉพาะสารละลายมีสีเท่านั้น
  • 4 : สารที่ละลายในเบนซินและดูดกลืนแสงความยาวคลื่น 260 nm นิยมใช้ Sample Cell ที่ผลิตด้วยโพลีโพรไพลีน
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 78 :
  • ข้อใดไม่ใช่ Flame ที่นิยมใช้ในเทคนิค AAS
  • 1 : Air - Hydrogen
  • 2 : Argon - Nitrous oxide
  • 3 : Air - Acetylene
  • 4 : Nitrous oxide - Acetylene
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 79 :
  • AAS เหมาะที่จะใช้กับการวิเคราะห์สารประเภทใด
  • 1 : nonmetal cations
  • 2 : alkali metal cations and anions
  • 3 : nonmetal ions and anions
  • 4 : metal cations
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 80 :
  • absorption spectra ได้จากการ plot ระหว่าง
  • 1 : concentration vs. absorbance
  • 2 : wavelength vs. concentration
  • 3 : absorbance vs. wavelength
  • 4 : absorbance vs. transmittance
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 81 :
  • การวิเคราะห์เชิงปริมาณด้วย spectrometric method โดยการทำ calibration curve ถ้า สารละลายของตัวอย่างที่นำไปวัดค่า absorbance มีความเข้มข้นสูงกว่าช่วงที่เป็นเส้นตรงของ standard calibration curve ที่เตรียมไว้ ควรทำอย่างไร
  • 1 : เปลี่ยนชนิดของ standard ใหม่
  • 2 : เพิ่มความเข้มข้นของ standard
  • 3 : extrapolate calibration curve
  • 4 : ลดความเข้มข้นของตัวอย่าง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 82 :
  • ถ้าต้องวิเคราะห์ trace elements หลายชนิด ในน้ำ พร้อมๆ กันและมีจำนวนตัวอย่าง 200 ตัวอย่าง ควรใช้เทคนิคใด
  • 1 : XRF
  • 2 : UV - Vis
  • 3 : ICP
  • 4 : AAS
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 83 :
  • ถ้า absorbance = 0.109 ค่า % transmission จะมีค่าเท่าใด
  • 1 : 62.1 %
  • 2 : 69.7 %
  • 3 : 71.3 %
  • 4 : 77.81 %
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 84 :
  • ถ้า % T = 35.5 ค่า absorbance จะมีค่าเท่าใด
  • 1 : 0.415
  • 2 : 0.450
  • 3 : 0.685
  • 4 : 0.650
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 85 :
  • ข้อใดใช้หลักการของ atomic emission
  • 1 : XRD
  • 2 : AAS
  • 3 : UV - Vis spectrometry
  • 4 : Flame test
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 86 :
  • เมื่อเปรียบเทียบวิธีทาง spectroscopy กับการวิเคราะห์แบบพื้นฐาน เช่น การไตเตรท แล้วพบว่า spectroscopy จะให้ accuracy ต่ำกว่า แต่มี sensitivity สูงกว่าคำว่า accuracy หมายถึง
  • 1 : ความละเอียด
  • 2 : ความถูกต้อง
  • 3 : ความไวต่อการตรวจวัด
  • 4 : ความแม่นยำ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 87 :
  • ข้อใดที่ไม่ใช่สมบัติของ Flame atomic absorption spectrometry
  • 1 : matrix effect ต่ำ
  • 2 : เหมาะกับการทำ Qualitative analysis
  • 3 : เตรียมตัวอย่างเพื่อการวิเคราะห์ได้ง่าย
  • 4 : high selectivity
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 88 :
  • วิธีการทำ standard addition method คือ
  • 1 : เตรียม standard 1 ค่า ความเข้มข้น แล้วนำไปวัด absorbance เทียบกับ absorbance ของตัวอย่าง
  • 2 : เตรียม standard solution ที่มีความเข้มข้นต่างๆ กัน นำไปทำ calibration curve
  • 3 : เติม sample ปริมาณเท่ากันๆ ลงในชุด standard ที่เตรียมไว้ แล้วนำไปวัดค่า absorbance เพื่อนำไปทำ calibration curve
  • 4 : เตรียม sample ไปวัด absorbance เทียบกับค่าคงที่ที่เก็บใน memory ของเครื่องมือ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 89 :
  • ข้อมูลใดถูกต้อง
  • 1 : คลื่นแม่เหล็กไฟฟ้าที่มีพลังงานสูง จะมีความยาวคลื่นมาก
  • 2 : คลื่นแม่เหล็กไฟฟ้าที่มีความยาวคลื่นต่ำ จะมีพลังงานสูง
  • 3 : คลื่นแม่เหล็กไฟฟ้าที่มีพลังงานสูง จะมีความถี่ต่ำ
  • 4 : พลังงานของคลื่นแม่เหล็กไฟฟ้าไม่สัมพันธ์ กับค่าความถี่
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 90 :
  • matrix matching ระหว่าง standard และ sample เป็นการวิเคราะห์โดยวิธีใด
  • 1 : direct measurement
  • 2 : standard addition
  • 3 : standard curve
  • 4 : ใช้ calibration curve
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 91 :
  • การเตรียม standard solution for calibration curve ควรเตรียมอย่างน้อยกี่ตัว
  • 1 : 1
  • 2 : 2
  • 3 : 3
  • 4 : 5
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 92 :
  • Nebulizer ในเครื่อง ICP ทำหน้าที่อะไร
  • 1 : จำแนกความยาวคลื่น
  • 2 : ทำให้สารละลายตัวอย่างแตกเป็นละอองฝอยเล็กๆ
  • 3 : ทำให้โมเลกุลของสารตัวอย่างแตกตัวเป็น ion
  • 4 : ช่วยสลายสารตัวอย่างให้เป็นไอ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 93 :
  • Interaction ระหว่าง electromagnetic radiation กับอะตอม หรือโมเลกุลของสารไม่ได้ส่งให้เกิดผลข้อใด
  • 1 : Diffraction
  • 2 : Comminution
  • 3 : Absorption
  • 4 : Emission
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 94 :
  • nondestructive method หมายถึง
  • 1 : AES
  • 2 : ICP
  • 3 : AAS
  • 4 : XRF
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 95 :
  • finger print technique ใช้กับงานด้านใด
  • 1 : Qualitative analysis
  • 2 : Quantitative analysis
  • 3 : Relative analysis
  • 4 : Kinetic analysis
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 96 :
  • chelate หรือ complexing agent ที่ใช้ในกระบวนการ colorimetric method หรือ spectrometric method คือ
  • 1 : KCl
  • 2 : 1, 10-Phenanthroline
  • 3 : EDTA
  • 4 : phenol
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 97 :
  • ถ้าต้องการเตรียม standard solution ของ Ti (IV) 2 ppm 50.0 ml โดยเตรียมจาก standard solution ของ Ti (IV) 100 ppm จะต้องใช้ standard solution ของ Ti (IV) 100 ppm กี่ ml
  • 1 : 0.5
  • 2 : 1
  • 3 : 2
  • 4 : 5
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 98 :
  • ถ้าต้องการเตรียม standard solution ของ Ca (II) 8 ppm 100 ml ในสารละลายของกรดไนทริก 0.5 % จะต้องใช้ standard Ca (II) 250 mg/l กี่ ml (Ca = 40)
  • 1 : 3.2
  • 2 : 0.8
  • 3 : 2.5
  • 4 : 8.0
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 99 :
  • ถ้าต้องการเตรียมสารละลายมาตรฐานของ Cu (II)ความเข้มข้น 10 microgramต่อลิตร ปริมาตร 50.0 ml จะต้องใช้สารละลายมาตรฐาน Cu (II) 5 ppm กี่ ml
  • 1 : 0.5
  • 2 : 1.00
  • 3 : 0.10
  • 4 : 5.00
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 100 :
  • น้ำหนักสมมูลของ sulphuric acid มีค่าเท่าใด (S = 32, O = 16))
  • 1 : 98
  • 2 : 49
  • 3 : 82
  • 4 : 196
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 101 :
  • น้ำหนักสมมูลของ nitric acid มีค่าเท่าใด (N = 14, O = 16)
  • 1 : 63
  • 2 : 36
  • 3 : 126
  • 4 : 31
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 102 :
  • กรดชนิดใดเป็น oxidising acid ที่แรงที่สุด
  • 1 : hydrochloric acid
  • 2 : nitric acid
  • 3 : perchloric acid
  • 4 : sulphuric acid
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 103 :
  • สารละลาย x : กรดเกลือ 10 % เตรียมจากกรดเกลือเข้มข้น (36 % by wt., 1.2 g/ml) สารละลาย y : กรดไนทริก 10 % เตรียมจากกรดไนทริกเข้มข้น (72 % by wt, 1.4 g/ml) เมื่อเปรียบเทียบสารละลาย x และ y ( N=16, Cl=35.5, O=16)
  • 1 : x มีความเข้มข้นในหน่วย Molar เท่ากับ y
  • 2 : x มีความเข้มข้นในหน่วย Molar มากกว่า y
  • 3 : x มีความเข้มข้นในหน่วย Molar น้อยกว่า y
  • 4 : x มีความเข้มข้นในหน่วย Normal เท่ากับ y
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 104 :
  • เปรียบเทียบ qualitative filter paper (A) และ quantitative filter paper (B) ข้อมูลใดถูกต้อง
  • 1 : A เหมาะกับงานวิเคราะห์เชิงปริมาณเท่านั้น
  • 2 : A เหมาะกับงานวิเคราะห์เชิงคุณภาพเท่านั้น
  • 3 : B เหมาะกับงานวิเคราะห์เชิงคุณภาพมากกว่า A
  • 4 : B เหมาะกับงานวิเคราะห์ทั้งเชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 105 :
  • ช่วงความยาวคลื่นของการวิเคราะห์ด้วย UV-Vis spectrometer
  • 1 : 200 - 400 nm
  • 2 : 400 - 800 nm
  • 3 : 800 - 1200 nm
  • 4 : 200 - 800 nm
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 106 :
  • ช่วงความยาวคลื่นของการวิเคราะห์ด้วย ultraviolet radiation
  • 1 : 100 - 200 nm
  • 2 : 200 - 400 nm
  • 3 : 200 - 800 nm
  • 4 : 600 - 1200 nm
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 107 :
  • ช่วงความยาวคลื่นของการวิเคราะห์ด้วย AAS
  • 1 : 100 - 200 nm
  • 2 : 200 - 400 nm
  • 3 : 200 - 800 nm
  • 4 : 600 - 1200 nm
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 108 :
  • ช่วงความยาวคลื่นของการวิเคราะห์ด้วย ICP
  • 1 : 100 - 200 nm
  • 2 : 200 - 400 nm
  • 3 : 200 - 800 nm
  • 4 : 600 - 1200 nm
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 109 :
  • เครื่องมือที่ให้ความร้อนได้ถึงอุณหภูมิสูงสุด ประมาณ 200 - 300 degree celcius คือ
  • 1 : electric oven
  • 2 : fume hood
  • 3 : muffle furnace
  • 4 : water bath
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 110 :
  • เครื่องมือที่ใช้กับการให้ความร้อนได้ถึงอุณหภูมิสูงสุด ประมาณ 1000 degree celcius หรือสูงกว่า 1000 degree celcius คือ
  • 1 : oven
  • 2 : hot plate
  • 3 : muffle furnace
  • 4 : water bath
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 111 :
  • เครื่องมือที่ใช้กับการให้ความร้อนที่สามารถควบคุมอุณหภูมิให้คงที่ ที่ประมาณ 100 degree celcius มักใช้เพื่อการทำ evaporation ซึ่งอาจมีไอสารที่เป็นอันตราย
  • 1 : oven
  • 2 : hot plate
  • 3 : muffle furnace
  • 4 : water bath
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 112 :
  • เมื่อใช้ผงตัวอย่างแร่หนัก 1.0324 กรัม นำไปอบที่อุณหภูมิ 100 degree celcius เป็นเวลา 2 ชั่วโมง น้ำหนักคงเหลือ 1.0005 กรัม เมื่อให้ความร้อนต่อไปถึง 700 degree celcius น้ำหนักคงเหลือ 0.9350 กรัม เมื่อผ่านการเผาต่อไปที่ 1000 degree celcius น้ำหนักคงเหลือ 0.7555 กรัม ถามว่าเปอร์เซ็นต์ LOI มีค่าเท่าไร
  • 1 : 24.5
  • 2 : 26.8
  • 3 : 6.5
  • 4 : 9.4
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 113 :
  • วัสดุตัวอย่าง 0.5110 กรัม นำมาละลายด้วยกรด แล้วเตรียมเป็น stock solution 250.0 ml จากนั้นจึงนำสารละลายจาก stock solution ไปวิเคราะห์ปริมาณแมกนีเซียมด้วยอะตอมมิกแอบซอบชั่น พบว่าสารละลายนี้มีความเข้มข้นของแมกนีเซียม 7.2 ppm ถามว่าวัสดุชินนี้มีแมกนีเซียมกี่เปอร์เซ็นต์
  • 1 : 0.35
  • 2 : 1.41
  • 3 : 0.50
  • 4 : 5.64
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 114 :
  • ถ้าต้องการเตรียมสารละลายมาตรฐานของสังกะสี 1000 ppm ปริมาตร 2.5 ลิตร โดยเตรียมจากโลหะสังกะสี ความบริสุทธิ์ 99.9% จะต้องชั่งโลหะสังกะสีหนักเท่าไร
  • 1 : 2.5 กรัม
  • 2 : 2.5000 กรัม
  • 3 : 2.50 กรัม
  • 4 : 2.5025 กรัม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 115 :
  • ถ้าต้องการเตรียมสารละลายมาตรฐานของทองแดง 700 ppm ปริมาตร 1 ลิตร โดยเตรียมจากผง copper oxide ซึ่งมีความบริสุทธิ์ 97% จะต้องชั่งผง copper oxide มาใช้เท่าใด (กำหนดน้ำหนักอะตอม Cu = 63.54, O = 16)
  • 1 : 876.7 mg
  • 2 : 903.5 mg
  • 3 : 700.0 mg
  • 4 : 721.6 mg
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 116 :
  • 37 % Al คิดเป็น aluminium oxide กี่เปอร์เซ็นต์ (Al =27, O = 16)
  • 1 : 95.9
  • 2 : 69.9
  • 3 : 58.9
  • 4 : 47.9
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 117 :
  • 95 % silica คิดเป็น %Si เท่าใด
  • 1 : 44.4
  • 2 : 60.5
  • 3 : 2.33
  • 4 : 47.5
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 118 :
  • ตัวอย่าง 0.5080 กรัม เมื่อนำมาเตรียมเป็นสารละลาย stock solution 500.0 ml นำไปวิเคราะห์พบว่า stock solution มีความเข้มข้นของ Fe = 0.006 molar ถามว่า % Fe ในตัวอย่างมีค่าเท่าใด (กำหนดน้ำหนักอะตอม Fe = 55.85)
  • 1 : 0.3
  • 2 : 0.59
  • 3 : 32.98
  • 4 : 8.7
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 119 :
  • electromagnetic wave ที่เรียงลำดับตามค่าพลังงานจากน้อยไปมาก
  • 1 : UV, VISIBLE , X-RAYS
  • 2 : VISIBLE , UV , X-RAYS
  • 3 : X-RAYS, VISIBLE, UV
  • 4 : X-RAYS , UV, VISIBLE
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 120 :
  • electromagnetic wave ที่เรียงลำดับตามค่าความยาวคลื่นจากน้อยไปมาก
  • 1 : UV, VISIBLE, X-RAYS
  • 2 : VISIBLE, UV , X-RAYS
  • 3 : X-RAYS, VISIBLE , UV
  • 4 : X-RAYS, UV, VISIBLE
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 121 :
  • ข้อใดเป็น complexing agent ที่ใช้กับ UV-Vis spectrometry เพื่อการวิเคราะห์ปริมาณฟอสฟอรัส
  • 1 : KCN
  • 2 : vanadomolybdate
  • 3 : EDTA
  • 4 : phenanthroline
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 122 :
  • ข้อใดไม่เกี่ยวข้องกับผลที่เกิดจาก interaction ระหว่าง electromagnetic radiation กับอะตอมหรือโมเลกุลของสสาร
  • 1 : absorption
  • 2 : diffraction
  • 3 : extraction
  • 4 : emission
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 123 :
  • โลหะชิ้นหนึ่งหนัก 0.5010 กรัม นำมาละลายด้วยกรด แล้วเตรียมเป็น stock solution (A) 250 ml เมื่อปิเปตสารละลาย A 25.0 ml นำไป reduce ด้วย stannous chloride ก่อนจะ titrate กับ potassium permanganate standard solution ที่มีความเข้มข้น 0.04 N ปรากฏว่าต้องใช้ standard solution 20.00 ml เพื่อทำให้ปฏิกิริยาถึง end point ถามว่า%Feในโลหะ มีค่าเท่าใด
  • 1 : 75
  • 2 : 80
  • 3 : 85
  • 4 : 89
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 124 :
  • ถ้าสารตัวอย่าง absorb แสงได้ 1 % ค่า absorbance ในกรณีนี้ จะมีค่าเท่าไร
  • 1 : 0.01
  • 2 : 0.1
  • 3 : 0.09
  • 4 : 0.004
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 125 :
  • light source ที่ใช้สำหรับ Ultraviolet radiation ใน spectrometer คือ
  • 1 : deuterium lamp
  • 2 : tungsten lamp
  • 3 : hollow cathode lamp
  • 4 : graphite lamp
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 126 :
  • light source ที่ใช้สำหรับ visible light ใน spectrometer คือ
  • 1 : deuterium lamp
  • 2 : tungsten lamp
  • 3 : hollow cathode lamp
  • 4 : hollow anode lamp
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 127 :
  • ชนิดของ Absorption cell ที่ควรใช้กับคลื่นแสงในช่วง 200-400 nm คือ
  • 1 : polyethylene cell
  • 2 : quartz cell
  • 3 : soda-lime glass cell
  • 4 : borosilicate glass cell
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 128 :
  • ชนิดของ Absorption cell ที่ควรใช้กับคลื่นแสงในช่วง 200-800 nm คือ
  • 1 : polyethylene cell
  • 2 : quartz cell
  • 3 : soft glass cell
  • 4 : borosilicate glass cell
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 129 :
  • ชนิดของ Absorption cell ที่ใช้กับคลื่นแสง visible คือ
  • 1 : polyethylene cell
  • 2 : graphite cell
  • 3 : borosilicate glass cell
  • 4 : CsBr cell
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 130 :
  • AAS ใช้วิเคราะห์ธาตุโดยตรง ในช่วงความเข้มข้น
  • 1 : 1 - 100 %
  • 2 : 0.1 - 50 ppm
  • 3 : 1 - 100 ppb
  • 4 : 0.1 - 2 %
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 131 :
  • FAAS ย่อมาจาก
  • 1 : Flame analyse atomic spectrometer
  • 2 : Flame atomic analysing spectrometer
  • 3 : Flame atomic absorption spectrometer
  • 4 : Flame absorption atomizer spectrometer
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 132 :
  • ICP ใช้วิเคราะห์ธาตุโดยตรงช่วงความเข้มข้น
  • 1 : 50 ppb – 50 ppm
  • 2 : 1 - 100 ppm
  • 3 : 1 - 100 %
  • 4 : 0.1 - 50 %
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 133 :
  • Analytical grade chemicals ต้องมีความบริสุทธิ์ ไม่ต่ำกว่าเท่าใด
  • 1 : 99.5 %
  • 2 : 95 %
  • 3 : 99 %
  • 4 : 100 %
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 134 :
  • การนำสารละลายมาตรฐาน “A” ซึ่งเตรียมขึ้นโดยทราบความเข้มข้น อย่างคร่าวๆ นำไป titrate กับ primary standard solution เพื่อคำนวณหาความเข้มข้นของสารละลาย มาตรฐาน “A” นั้น วิธีการนี้เรียกว่า
  • 1 : standard titration
  • 2 : primary titration
  • 3 : secondary titration
  • 4 : Standardization
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 135 :
  • gravimetric analysis
  • 1 : การวิเคราะห์ด้วยการตกตะกอน และชั่งน้ำหนักตะกอน
  • 2 : การวิเคราะห์ด้วยการ titrate และดูตะกอนที่เกิดขึ้น
  • 3 : การวิเคราะห์ด้วยการ titrate และดูการเปลี่ยนสีของสารละลาย
  • 4 : การวิเคราะห์ด้วยการใช้ indicator เพื่อการตกตะกอน
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 136 :
  • สารเคมีตัวใดเป็น inorganic precipitant
  • 1 : diethylamine
  • 2 : carbazone
  • 3 : sodium nitrate
  • 4 : ammonium sulphate
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 137 :
  • สารเคมีตัวใดเป็น organic precipitant
  • 1 : dimethyl glyoxime
  • 2 : ethanol
  • 3 : EDTA
  • 4 : sodium chloride
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 138 :
  • Redox titration คือ
  • 1 : การ titrate โดยดูสีที่เปลี่ยนแปลงเป็นจุดยุติ
  • 2 : การ titrate โดยใช้หลักการของปฏิกิริยาการถ่ายเทอิเลกตรอนของ reactants
  • 3 : การ titrate โดยใช้หลักการทำปฏิกิริยาให้เกิดสารประกอบเชิงซ้อน
  • 4 : การ titrate ที่ต้องไม่มีตะกอนเกิดขึ้นในสารละลายระหว่างทำปฏิกิริยา
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 139 :
  • Complexometric titration คือ
  • 1 : การ titrate โดยการทำปฏิกิริยากับสารประกอบเชิงซ้อน
  • 2 : การ titrate โดยมีสารประกอบเชิงซ้อนทำหน้าที่เป็น masking agent
  • 3 : การ titrate โดยใช้เครื่องมือที่ซับซ้อนเป็นเครื่องช่วยวัด end point
  • 4 : การ titrate โดยมีสารประกอบเชิงซ้อนเป็นตัวเร่งปฏิกิริยา
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 140 :
  • primary standard solution
  • 1 : เป็นสารละลายมาตรฐานที่เตรียมขึ้นโดยทราบปริมาตรที่แน่ชัด
  • 2 : เป็นสารละลายมาตรฐานที่ต้องซื้อจากบริษัทผู้ผลิตเท่านั้น
  • 3 : เป็นสารมาตรฐานที่ใช้เตรียม secondary standard substance
  • 4 : เป็นสารละลายมาตรฐานที่เตรียมขึ้นโดยทราบความเข้มข้นที่แน่นอน
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 141 :
  • ถ้าต้องการเตรียมสารละลายกรดเกลือ 20 % (by volume) ปริมาณ 120 ml โดยเตรียมจากกรดเกลือที่มีความเข้มข้น 10 M จะต้องใช้กรดเกลือ 10 M นี้ กี่ ml
  • 1 : 10
  • 2 : 12
  • 3 : 24
  • 4 : 20
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 142 :
  • กรดไนทริกเข้มข้นที่มีป้ายระบุว่า 72 % (by wt.) density 1.42 g/ml ปริมาณ 100 ml จะนำไปเตรียมสารละลายกรดไนทริก 1.6 M ได้กี่ ml.
  • 1 : 1000
  • 2 : 2000
  • 3 : 3000
  • 4 : 4000
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 143 :
  • การเตรียมสารละลายกรดเจือจางจากกรดเข้มข้นผสมกับน้ำ ควรทำดังนี้
  • 1 : ต้องเติมกรดเข้มข้นและน้ำลงไปผสมพร้อมๆ กัน
  • 2 : ต้องเติมน้ำลงไปในกรดเข้มข้น
  • 3 : ต้องเติมกรดเข้มข้นลงไปในน้ำ
  • 4 : เติมน้ำหรือกรดเข้มข้นก่อนก็ได้
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 144 :
  • Redox method เหมาะกับการวิเคราะห์ธาตุประเภทใด
  • 1 : transition elements ที่มี oxidation state มากกว่า 1 ค่า
  • 2 : alkali elements
  • 3 : alkaline earth elements
  • 4 : ธาตุที่มีหลาย oxidation state และเปลี่ยนแปลง oxidation state ได้ง่าย
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 145 :
  • การกำจัดตัว interfere ที่สลายตัวกลายเป็นไอได้ง่าย เมื่อได้รับความร้อน เรียกว่า
  • 1 : masking
  • 2 : fusion
  • 3 : digestion
  • 4 : evaporation
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 146 :
  • เหตุใดจีงควรใช้ excess precipitant .
  • 1 : เพื่อทดแทนการละลายของ reactant
  • 2 : เพื่อทดแทนการละลายของ precipitant
  • 3 : เพื่อป้องกันการละลายของ precipitate
  • 4 : เพื่อป้องกันการละลายของ precipitant
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 147 :
  • การใช้ precipitant ด้วยปริมาณมากเกินไป อาจมีผลเสียทางเทคนิค คือ
  • 1 : เกิดปฏิกิริยารุนแรง
  • 2 : precipitate อาจเปลี่ยนเป็น soluble complex หรือ soluble salt
  • 3 : precipitate กลายเป็น precipitant
  • 4 : ปฏิกิริยาไม่สามารถดำเนินต่อไป
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 148 :
  • ปัจจัยที่ไม่มีผลต่อความสมบูรณ์ของการตกตะกอนคือ
  • 1 : อุณหภูมิ
  • 2 : ระยะเวลาที่ทิ้งให้ตกตะกอน
  • 3 : อัตราเร็วของการเติมตัวที่ทำให้เกิดการตกตะกอน
  • 4 : ภาชนะที่ใช้
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 149 :
  • ถ้าในตัวอย่างประกอบด้วยปริมาณธาตุที่ต้องการวิเคราะห์ประมาณ 30-40 % ท่านคิดว่าควรเลือกวิเคราะห์เชิงปริมาณโดยเทคนิคใด
  • 1 : ICP
  • 2 : UV - Vis spectrometry
  • 3 : XRD
  • 4 : Titration
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 150 :
  • analytical technique หรือเครื่องมือที่ใช้วิเคราะห์ตัวอย่างที่อยู่ในสถานะของแข็ง โดยไม่ต้องสกัดให้เป็นสารละลาย
  • 1 : Titration
  • 2 : ICP
  • 3 : AAS
  • 4 : XRD
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 151 :
  • ข้อใดจัดเป็น Instrumental Analysis
  • 1 : Titrimetry
  • 2 : Optical emission spectroscopy
  • 3 : Gravimetry
  • 4 : Flame test
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 152 :
  • อุปกรณ์ใดที่ไม่เกี่ยวข้องกับการวัดปริมาตร
  • 1 : volumetric flask
  • 2 : volumetric pipette
  • 3 : graduated cylinder
  • 4 : erlenmeyer flask
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 153 :
  • อุปกรณ์ใดที่ไม่จำเป็นต้องใช้ในงาน filtration
  • 1 : spatula
  • 2 : filtering funnel
  • 3 : funnel stand
  • 4 : filter paper
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 154 :
  • อุปกรณ์ที่ไม่เกี่ยวข้องกับ titration process
  • 1 : buret
  • 2 : pipet
  • 3 : volumetric flask
  • 4 : porcelain crucible
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 155 :

  • 1 : 0.191
  • 2 : 0.138
  • 3 : 0.094
  • 4 : 0.383
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 156 :
  • ชิ้นงานโลหะตัวอย่างหนัก 0.6630 กรัม นำมา digest เพื่อเตรียมเป็นstock sample solution (A) ปริมาตร 250.0 มล. เมื่อปิเปต (A) มา 5 มล. นำไปใส่ใน volumetric flask ขนาด 50 มล. ปรับปริมาตรด้วย 0.5 M nitric acid ได้ solution (B) แล้วนำไปวิเคราะห์ พบว่า (B) มีความเข้มข้นของตะกั่ว 1.2 ppm จงคำนวณหาว่าชิ้นโลหะตัวอย่างประกอบด้วยตะกั่วกี่เปอร์เซ็นต์
  • 1 : 0.45
  • 2 : 0.91
  • 3 : 0.22
  • 4 : 1.07
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 157 :
  • ถ้ามี silicon dioxide 5% อยากทราบว่าคิดเป็น silicon ได้เปอร์เซ็นต์ ( Si = 28.1, O= 16 )
  • 1 : 4.66
  • 2 : 10.73
  • 3 : 2.33
  • 4 : 5.36
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 158 :
  • ชั่งตัวอย่างทราย 0.5010 กรัม ใส่ใน platinum crucible ซึ่งหนัก 20.1230 กรัม เมื่อเติมHF 5 มล. และ sulphuric acid 0.5 มล. นำไปให้ความร้อน แล้วระเหยจนแห้งสนิท นำไปชั่งน้ำหนักของ platinum crucible และ residue พบว่ามีน้ำหนัก 20.1348 กรัม วัสดุตัวอย่างนี้มีเปอร์เซ็นต์ของ silica เท่าไร
  • 1 : 97.64
  • 2 : 99.10
  • 3 : 99.58
  • 4 : 98.23
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 159 :
  • อุปกรณ์หรือเครื่องมือใดที่ไม่เกี่ยวข้องกับการชั่งวัสดุผง
  • 1 : spatula
  • 2 : analytical balance
  • 3 : stirring rod
  • 4 : weighing paper
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 160 :
  • อุปกรณ์หรือเครื่องมือใดที่ไม่เกี่ยวข้องกับการทำ acid digestion เพื่อการละลายสารตัวอย่างที่เป็นของแข็งให้เป็นสารละลาย
  • 1 : stirring rod
  • 2 : hot plate
  • 3 : beaker
  • 4 : porcelain crucible
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 161 :
  • อุปกรณ์หรือเครื่องมือใดที่ไม่เกี่ยวข้องกับการวิเคราะห์หาค่า LOI
  • 1 : platinum crucible
  • 2 : porcelain crucible
  • 3 : graduated cylinder
  • 4 : analytical balance
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 162 :
  • อุปกรณ์หรือเครื่องมือใดที่ไม่เกี่ยวข้องกับการวิเคราะห์ค่าความชื้นของตัวอย่างผง
  • 1 : analytical balance
  • 2 : spatula
  • 3 : muffle furnace
  • 4 : electric oven
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 163 :
  • อุปกรณ์หรือเครื่องมือใดที่ไม่เกี่ยวข้องกับการเตรียม primary standard solution จาก primary standard chemical
  • 1 : volumetric flask
  • 2 : buret
  • 3 : analytical balance
  • 4 : electric oven
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 164 :
  • สิ่งใดที่ไม่จำเป็นต้องใช้ในวิธีการเตรียม secondary standard solution
  • 1 : analytical reagent
  • 2 : graduated cylinder
  • 3 : beaker
  • 4 : stirring rod
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 165 :
  • UV – VIS spectrophotometry หมายถึง
  • 1 : ultraviolet - visible spectrophotometry
  • 2 : ultrasonic - visualize spectrophotometry
  • 3 : ultrasonic - visible spectrophotometry
  • 4 : ultrasound - visualize spectrophotometry
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 166 :
  • การวิเคราะห์ปริมาณธาตุทองแดงเจือปนที่มีปริมาณน้อยมาก ระดับ part per billion ในน้ำ ควรใช้วิธีใด
  • 1 : XRD
  • 2 : AAS
  • 3 : ICP
  • 4 : XRF
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 167 :

  • 1 : 6.2
  • 2 : 6.0
  • 3 : 12.6
  • 4 : 10.2
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 168 :
  • ค่าAbsorbance ที่ได้จากการวัดด้วย UV-Vis Spectrophotometer จะมีค่าสูงสุดในทางทฤษฎีได้เท่าใด
  • 1 : 0.1
  • 2 : 1.0
  • 3 : 2.0
  • 4 : 100
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 169 :

  • 1 : 2 หรือ 3
  • 2 : 2
  • 3 : 3
  • 4 : 4
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 170 :

  • 1 : 18.2
  • 2 : 10.5
  • 3 : 20.1
  • 4 : 20.9
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 171 :
  • เมื่อละลายชิ้นงานตัวอย่าง 1.000กรัม แล้วเตรียมเป็น stock solution “A” 250.0 ml. จากนั้นจึง pipet สารละลายจาก “A” นี้มา 20.00 ml ทำให้เจือจางเป็นสารละลาย “B” 50.00 ml ก่อนนำไปวิเคราะห์ปริมาณแมกนีเซียมด้วย AAS พบว่าสารละลาย “B” มีแมกนีเซียม 10 ppm จงหาคำนวณหาเปอร์เซ็นต์แมกนีเซียม ในตัวอย่างนี้
  • 1 : 0.15
  • 2 : 0.63
  • 3 : 4.63
  • 4 : 4.74
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 172 :
  • เมื่อละลายชิ้นงานตัวอย่าง 0.8100กรัม แล้วเตรียมเป็น stock solution “A” 250.0 ml. จากนั้นจึง pipet สารละลายจาก “A” นี้มา 10.00 ml ทำให้เจือจางเป็นสารละลาย “B” 50.00 ml ก่อนนำไปวิเคราะห์ปริมาณ titanium พบว่าสารละลาย “B” มี titanium 10 ppm จงหาคำนวณหาเปอร์เซ็นต์ titaniumในตัวอย่างนี้
  • 1 : 1.54
  • 2 : 0.5
  • 3 : 2.57
  • 4 : 0.57
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 173 :
  • เมื่อละลายชิ้นงานตัวอย่าง 1.0350กรัม แล้วเตรียมเป็น stock solution “A” 250.0 ml. จากนั้นจึง pipet สารละลายจาก “A” นี้มา 20.00 ml ทำให้เจือจางเป็นสารละลาย “B” 50.00 ml ก่อนนำไปวิเคราะห์ปริมาณ titanium พบว่าสารละลาย “B” มี titanium 12 ppm จงหาคำนวณหาเปอร์เซ็นต์ titanium dioxideในตัวอย่างนี้ ( Ti=48.9)
  • 1 : 0.9
  • 2 : 1.2
  • 3 : 0.7
  • 4 : 1.8
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 174 :
  • ผงแร่ยิปซั่ม 1.0300 กรัม เมื่อผ่านการอบที่อุณหภูมิ 50 องศาเซลเชียส พบว่ามีน้ำหนักคงเหลือ 1.0260 กรัม เมื่อนำไปอบต่อที่อุณหภูมิ 230 องศาเซลเชียส พบว่ามีน้ำหนักคงเหลือ 0.8315 กรัม จากการวิเคราะห์โดยวิธีศึกษา combined water จะได้ว่าตัวอย่างแร่ยิปซัมนี้มีความบริสุทธิ์ร้อยละเท่าไร ( Ca=40 , S =32 , O=16)
  • 1 : 98.4
  • 2 : 94.8
  • 3 : 92.9
  • 4 : 89.51
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 175 :
  • ผงแร่ยิปซั่ม 1.0612 กรัม เมื่อผ่านการอบที่อุณหภูมิ 50 องศาเซลเชียส พบว่ามีน้ำหนักคงเหลือ 1.0594 กรัม เมื่อนำไปอบต่อที่อุณหภูมิ 225 องศาเซลเชียส พบว่ามีน้ำหนักคงเหลือ 0.8633 กรัม จากการวิเคราะห์โดยวิธีศึกษา combined water จะได้ว่าตัวอย่างแร่ยิปซัมนี้มี calcium sulphate ร้อยละเท่าไร ( Ca=40 , S =32 , O=16)
  • 1 : 74.8
  • 2 : 87.1
  • 3 : 71.4
  • 4 : 74.1
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 176 :
  • มหาสมุทรมีพื้นที่รวม 363 ล้านตารางกิโลเมตร มีความลึกเฉลี่ย 3800 เมตร มีความเข้มข้นเฉลี่ยของ dissolved gold 5.8 นาโนกรัมต่อลิตร ถามว่าในมหาสมุทรจะมีทองอยู่ทั้งหมดเท่าไร
  • 1 : 8 ล้าน ตัน
  • 2 : 8 ล้านล้าน ตัน
  • 3 : 80 ล้าน ตัน
  • 4 : 80 ล้าน กิโลกรัม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 177 :
  • ถ้าต้องการชั่งวัตถุที่ต้องการความละเอียดถึง 0.1 % โดยสิ่งที่ต้องการชั่งมีน้ำหนักประมาณ 0.5 กรัม ควรเลือกใช้เครื่องชั่งชนิดใด
  • 1 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึง 0.001 กรัม
  • 2 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึง 0.0001 กรัม
  • 3 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึง 0.01 กรัม
  • 4 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึง 0.1 กรัม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 178 :
  • ถ้าต้องการชั่งวัตถุโดยที่ยอมรับความคลาดเคลื่อนของการชั่งได้ 0.01 % และสิ่งที่ต้องการชั่งมีน้ำหนักประมาณ 2 กรัม ควรเลือกใช้เครื่องชั่งชนิดใด
  • 1 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึงทศนิยมตำแหน่งที่ 1 ของกรัม
  • 2 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึงทศนิยมตำแหน่งที่ 2 ของกรัม
  • 3 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึงทศนิยมตำแหน่งที่ 3 ของกรัม
  • 4 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึงทศนิยมตำแหน่งที่ 4 ของกรัม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 179 :
  • ถ้าต้องการชั่งวัตถุโดยที่ยอมรับความคลาดเคลื่อนของการชั่งได้ถึงร้อยละ 0.1 และสิ่งที่ต้องการชั่งมีน้ำหนักประมาณ 120 กรัม ควรเลือกใช้เครื่องชั่งชนิดใด
  • 1 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึงทศนิยมตำแหน่งที่ 2 ของกรัม
  • 2 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึงทศนิยมตำแหน่งที่ 3 ของกรัม
  • 3 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึงทศนิยมตำแหน่งที่ 4 ของกรัม
  • 4 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึงทศนิยมตำแหน่งที่ 1 ของกรัม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 180 :
  • ถ้าต้องการชั่งวัตถุที่ต้องการความละเอียดถึง 0.1 % โดยสิ่งที่ต้องการชั่งมีน้ำหนักประมาณ 13 กรัม ควรเลือกใช้เครื่องชั่งชนิดใด
  • 1 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึง 0.0001 กรัม
  • 2 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึง 0.001 กรัม
  • 3 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึง 0.01 กรัม
  • 4 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึง 0.01 มิลลิกรัม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 181 :
  • ถ้าเผา calcium carbonate 20.0 กรัม ที่อุณหภูมิ 1000 องศาเซลเซียส เป็นเวลา 1 ชั่วโมง จะมีน้ำหนักคงเหลือกี่กรัม (Ca = 40, C = 12, 0 = 16)
  • 1 : 8
  • 2 : 8.8
  • 3 : 11.2
  • 4 : 20.2
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 182 :
  • ถ้าใช้ calcium carbonate 13 กรัม นำไปเผาที่อุณหภูมิ 1050 องศาเซลเซียส เป็นเวลา 1 ชั่วโมง จะมีน้ำหนักสูญหายไปเท่าไร (Ca = 40, C = 12, 0 = 16)
  • 1 : 44 %
  • 2 : 56 %
  • 3 : 65 %
  • 4 : 40 %
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 183 :
  • ถ้าต้องการกำจัดความชื้นจากสารเคมีที่มีน้ำผลึก ควรทำอย่างไร
  • 1 : อบที่อุณหภูมิ 100 องศาเซลเซียส เป็นเวลา 1 ชั่วโมง
  • 2 : อบที่อุณหภูมิ 100-110 องศาเซลเซียส เป็นเวลา 1 ชั่วโมง
  • 3 : เก็บในเดสิกเคเตอร์ที่อุณหภูมิห้อง
  • 4 : อบที่อุณหภูมิ 150 องศาเซลเซียส เป็นเวลา 1 ชั่วโมง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 184 :
  • สารเคมีที่ไม่ควรใช้กับวัสดุทองคำขาว คือ
  • 1 : sulfuric acid
  • 2 : Hydrofluoric acid
  • 3 : Aqua regia
  • 4 : Hydrochloric acid
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 185 :
  • ข้อใดเป็นสภาวะการใช้งานที่เป็นอันตราย สำหรับการใช้กรด Perchloricซี่งเป็น Strong oxidizing agent
  • 1 : ทำปฏิกิริยากับน้ำที่อุณหภูมิห้อง
  • 2 : ทำปฏิกิริยากับ Strong oxidizing agent
  • 3 : ทำปฏิกิริยากับเกลือแกง
  • 4 : ทำปฏิกิริยากับ Strong reducing agent ที่อุณหภูมิสูง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 186 :
  • ข้อใดไม่ตรงกับความหมายของ Wet analysis
  • 1 : Classical analysis
  • 2 : Chemical analysis
  • 3 : X-Rays analysis
  • 4 : Assaying
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 187 :
  • ละลายลวดทังสเตน 3.00 กรัม ในสารละลายของกรดกัดทอง แล้วนำไประเหย ตัวทำละลายและสารระเหยออกไป พบว่า acid-insoluble residue มีน้ำหนักคงเหลือ 0.0950 กรัม หลังจาก treat ด้วย HF พบว่ามีน้ำหนักที่หายไปอีก 20 % ถามว่า % Si ในลวดทังสเตนมีค่าเท่าไร ( Si=28.1, O=16, W=183.8)
  • 1 : 2 %
  • 2 : 0.2%
  • 3 : 3 %
  • 4 : 0.3 %
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 188 :
  • ละลายลวดทังสเตน 3.00 กรัม ในสารละลายของกรดกัดทอง แล้วนำไประเหยตัวทำละลายและสารระเหยออกไป พบว่า acid-insoluble residue มีน้ำหนักคงเหลือ 0.0950 กรัมหลังจาก treat ด้วย HF พบว่ามีน้ำหนักที่หายไปอีก 20 % ถามว่า % W ในลวดทังสเตนมีค่า เท่าไร (W=183.8, O=16)
  • 1 : 2 %
  • 2 : 3 %
  • 3 : 4 %
  • 4 : 5 %
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 189 :
  • การเตรียม standard solution ของ Cadmium ความเข้มข้น 1 ppm. 50.00 ml จาก สารละลาย standard cadmium solution 1000 ppm ควรเตรียมดังนี้
  • 1 : pipet สารละลาย 1000 ppm มา 0.005 ml. แล้ว dilute ให้เป็น 50.00 ml.
  • 2 : pipet สารละลาย 1000 ppm มา 0.05 ml. แล้ว dilute ให้เป็น 50.00 ml.
  • 3 : pipet สารละลาย 1000 ppm มา 1.0 ml. แล้ว dilute ให้เป็น 100.00 ml. (A) จากนั้นpipet (A) มา 5.0 ml. dilute ให้เป็น 50.0 ml.
  • 4 : pipet สารละลาย 1000 ppm มา 5.0 ml. แล้ว dilute ให้เป็น 100.00 ml. (A) จากนั้นจึง pipet (A) มา 0.5 ml. dilute ให้เป็น 50.0 ml.
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 190 :
  • ถ้าต้องการเตรียม 0.05 M sulphuric acid solution โดยเริ่มต้นจาก Sulphuric acid ปริมาณ 0.10 mole จะต้องใช้น้ำในการเตรียมเป็นปริมาตรเท่าไร
  • 1 : 10 ml
  • 2 : 100 ml
  • 3 : 200 ml
  • 4 : 2000 ml
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 191 :
  • ข้อใดที่ไม่ใช่สมบัติของ Analytical grade reagent
  • 1 : High purity (% assay > 99.5)
  • 2 : ระบุชนิดของ Impurities
  • 3 : ระบุปริมาณของ Impurities
  • 4 : เหมาะกับการใช้เตรียม Secondary standard solution
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 192 :
  • ข้อใดเป็นการทำงานของ Masking agent
  • 1 : เป็นตัวเร่งปฏิกริยา
  • 2 : เป็นตัวทำให้เกิดการตกตะกอน
  • 3 : เป็น Releasing agent เพื่อควบคุม สภาวะของปฏิกริยาที่ต้องการ
  • 4 : เป็น Complexing agent ที่ใช้จับตัว Interfere ให้อยู่ในสภาพที่ไม่รบกวนปฏิกริยาที่ต้องการ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 193 :
  • Instrumental technique ที่ใช้กับตัวอย่างเป็นของแข็งได้
  • 1 : ICP, AAS spectrometry
  • 2 : XRF, EDX spectrometry
  • 3 : FAAS UV-Vis spectrometry
  • 4 : SEM, UV-Vis spectrometry
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 194 :
  • โดยปกติสารละลาย Fe3+ ในกรด มีสีเหลืองอ่อน สารละลาย oxine (ในคลอโรฟอร์ม) ไม่มีสี แต่เมื่อเหล็กรวมกับ oxine จะได้สารประกอบเชิงซ้อนสีเขียวเข้ม ท่านจะเลือกใช้เทคนิคใดในการวิเคราะห์ปริมาณ Fe3+ ในสารละลายกรด
  • 1 : Gravimetric
  • 2 : Complexometric
  • 3 : Colorimetric
  • 4 : Potentiometric
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 195 :
  • โดยปกติสารละลาย Fe3+ ในกรด มีสีเหลืองอ่อน (ความยาวคลื่นดูดกลืนสูงสุด = A) สารละลาย oxine (ในคลอโรฟอร์ม) ไม่มีสี แต่เมื่อเหล็กรวมกับ oxine จะได้สารประกอบเชิงซ้อนสีเขียวเข้ม ความยาวคลื่นดูดกลืนสูงสุด = B) หากท่านเลือกใช้เทคนิค UV-VIS spectrometricในการวิเคราะห์ปริมาณ Fe3+ ในสารละลายกรด ท่านจะเลือกวัดค่า absorbance ที่ความยาวคลื่นใด
  • 1 : เลือกใช้ความยาวคลื่น A
  • 2 : เลือกใช้ความยาวคลื่น B
  • 3 : เลือกใช้ความยาวคลื่นระหว่าง A - B
  • 4 : ต้องสแกนหาความยาวคลื่นไหม่
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 196 :
  • ข้อใดเป็นหลักการพื้นฐานของ UV-VIS spectroscopy
  • 1 : molecular adsorption
  • 2 : molecular absorption
  • 3 : atomic absorption
  • 4 : atomic emission
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 197 :
  • ข้อใดเป็นหลักการพื้นฐานของ AA spectroscopy
  • 1 : molecular adsorption
  • 2 : molecular absorption
  • 3 : atomic adsorption
  • 4 : atomic absorption
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 198 :
  • ข้อใดเป็นหลักการพื้นฐานของ AE spectroscopy
  • 1 : atomic absorption
  • 2 : atomic adsorption
  • 3 : atomic emission
  • 4 : atomic vibration
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 199 :
  • ข้อใดไม่ใช่เทคนิคสำหรับ AAS
  • 1 : Flame atomization
  • 2 : graphite furnace atomization
  • 3 : plasma atomization
  • 4 : non-flame atomization
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 200 :
  • ข้อใดไม่ใช่เทคนิคสำหรับ AES
  • 1 : Flame exitation
  • 2 : graphite furnace exitation
  • 3 : elctrical (discharge) exitation
  • 4 : plasma exitation
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 201 :
  • ข้อใดไม่ใช่เทคนิคสำหรับ plasma exitation ใน AES
  • 1 : inductively coupled plasma (ICP)
  • 2 : microwave induced plasma (MIP)
  • 3 : laser induced plasma (LIP)
  • 4 : UV induced plasma (UVIP)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 202 :
  • ข้อใดไม่ใช่ application ของ UV-VIS spectroscopy
  • 1 : photometric tritration
  • 2 : colorimetric tritration
  • 3 : potentiometric tritration
  • 4 : complexometric titration
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 203 :
  • หากสาร A เป็นสารไม่มีสี (ดูดกลืนแสงสูงสุดที่ 260 nm) หากนำไปฉายแสงด้วย High voltage UV จะเกิดการแตกตัวได้เป็นสาร B (Cation) สีเขียวเข้ม (ดูดกลืนแสงสูงสุดที่ 620 nm) และ OH- ท่านจะเลือกใช้เทคนิคใดในการติดตามการเกิด Photoreaction นั้น
  • 1 : ใช้เทคนิค AAS วัดค่า absorbance ของ cation ที่เกิดขึ้น
  • 2 : ใช้เทคนิค ICP วัดค่า absorbance ของ cation ที่เกิดขึ้น
  • 3 : ใช้เทคนิค UV-VIS วัดค่า absorbance ของ cation ที่เกิดขึ้น
  • 4 : ใช้เทคนิค IRS วัดค่า absorbance ของ cation ที่เกิดขึ้น
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 204 :
  • ในการวัดความเข้มข้นสารด้วยเทคนิค UV-VIS หากวัดค่า absorbance แล้วเกิน 1 มากๆ ท่านจะแก้ไขอย่างไร
  • 1 : เจือจางสารละลายนั้นไปเรื่อยๆจนค่า A<1
  • 2 : ใช้ Sample cell หรือ Cuvette ที่ออกแบบพิเศษให้มี path length น้อยลง
  • 3 : เลือกวัดค่า absorbance ที่ไม่ใช่ความยาวคลื่นสูงสุด
  • 4 : ใช้ Sample cell หรือ Cuvette ที่ออกแบบพิเศษให้แสงผ่านได้น้อยลง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 205 :
  • อุปกรณ์หรือเครื่องมือใดที่ไม่จำเป็นสำหรับกับการเตรียม primary standard solution
  • 1 : Analytical balance
  • 2 : buret
  • 3 : Volumetric flask
  • 4 : Spatula
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 206 :
  • อุปกรณ์หรือเครื่องมือใดที่ไม่จำเป็นต้องใช้ ในงานเตรียม secondary standard solution
  • 1 : balance
  • 2 : Beaker
  • 3 : Spatula
  • 4 : Volumetric flask
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 207 :
  • อุปกรณ์หรือเครื่องมือใดที่ไม่เกี่ยวข้องกับกระบวนการทำ acid digestion
  • 1 : Beaker
  • 2 : Stirring rod
  • 3 : Spatula
  • 4 : Hot plate
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
เนื้อหาวิชา : 517 : Materials characterization by X-ray and electron microscopic techniques
ข้อที่ 208 :
  • ชิ้นงานที่ไม่นำไฟฟ้าสามารถตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกวาด (Scanning Electron Microscope)ได้หรือไม่
  • 1 : ไม่ได้
  • 2 : ได้ โดยเคลือบสารนำไฟฟ้า เช่น ทอง
  • 3 : ได้ โดยเตรียมชิ้นงานตามปกติ
  • 4 : ได้ โดยตัดชิ้นงานให้บางมาก
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 209 :
  • ธาตุใดที่ไม่สามารถตรวจสอบได้ด้วย Energy Dispersive Spectrometer (EDS) แบบ Be window
  • 1 : Fe
  • 2 : Na
  • 3 : Cr
  • 4 : O
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 210 :
  • วัสดุใดต่อไปนี้ ไม่สามารถตรวจสอบโครงสร้างของวัสดุเพื่อยืนยันชนิดของวัสดุด้วย X-Ray Diffractometer (XRD)
  • 1 : Al2O3 ที่มีโครงสร้างแบบ corundum
  • 2 : C ที่มีโครงสร้างเป็นอะมอฟัส
  • 3 : Fe ที่มีโครงสร้าง FCC
  • 4 : ไม่มีวัสดุชนิดใดที่ตรวจสอบด้วยวิธีนี้ไม่ได้
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 211 :
  • วิธี GIXD หรือ GAXD ใช้หลักการเหมือนกับเครื่องมือวิเคราะห์ใด
  • 1 : Scanning Electron Microscope
  • 2 : Transmission Electron Microscope
  • 3 : X-Ray Diffractometer
  • 4 : Atomic Absorption
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 212 :
  • วิธีใดไม่นิยมใช้ในการตรวจสอบพื้นผิว
  • 1 : Auger Electron Microscopy
  • 2 : X-Ray Photoelectron Spectrometer
  • 3 : Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
  • 4 : Atomic Absorption
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 213 :
  • การตรวจสอบธาตุผสมที่มีปริมาณน้อย ในระดับหนึ่งในล้าน หรือ part per million (ppm) ควรใช้วิธีใด
  • 1 : Atomic Absorption
  • 2 : X-Ray Diffractometer
  • 3 : X-Ray Fluorescence
  • 4 : Energy Dispersive Spectrometer
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 214 :
  • การตรวจสอบวิธีใดไม่สามารถแสดงผลเป็นภาพถ่ายได้
  • 1 : Scanning Electron Microscope (SEM)
  • 2 : Transmission Electron Microscope (TEM)
  • 3 : Auger Electron Microscopy (AES)
  • 4 : Energy Dispersive Spectrometer (EDS)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 215 :
  • การตรวจสอบ Energy Dispersive Spectrometer และ Wavelength Dispersive Spectrometer ตรวจสอบอะไรจากชิ้นงาน
  • 1 : Auger electron
  • 2 : Secondary electron
  • 3 : Characteristic X-ray
  • 4 : Back scattering electron
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 216 :
  • AES ตรวจสอบธาตุต่างๆด้วย
  • 1 : Characteristic X-ray
  • 2 : Diffracted X-ray
  • 3 : Transmitted Electron
  • 4 : Auger Electron
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 217 :
  • วิธีการตรวจสอบวิธีใดต่อไปนี้ไม่สามารถตรวจสอบสารประกอบได้
  • 1 : Energy Dispersive Spectrometer
  • 2 : X-Ray Photoelectron Spectrometer
  • 3 : X-Ray Diffractometer
  • 4 : Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 218 :
  • ค่าใดต่อไปนี้สามารถหาได้โดยตรงจาก electron diffraction pattern
  • 1 : ขนาดของเกรน
  • 2 : พันธะของผลึก
  • 3 : ค่าขนาดของโครงผลึก (lattice parameter)
  • 4 : ความหนาของชิ้นงานที่ตรวจสอบ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 219 :
  • Electron Diffraction pattern สามารถตรวจสอบได้จากเครื่องมือใด
  • 1 : Energy Dispersive Spectrometer
  • 2 : X-Ray Photoelectron Spectrometer
  • 3 : X-Ray Diffractometer
  • 4 : กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (Transmission Electron Microscope)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 220 :
  • เครื่องมือวิเคราะห์ใดสามารถถ่ายรูปผิวของรอยแตก (Fracture surface) เพื่อวิเคราะห์ได้
  • 1 : กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (Transmission Electron Microscope)
  • 2 : กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกวาด (Scanning Electron Microscope)
  • 3 : กล้องจุลทรรศน์แสง (Optical Microscope)
  • 4 : กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (Transmission Electron Microscope) และ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกวาด (Scanning Electron Microscope)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 221 :
  • ข้อใดกล่าวถูกต้องเกี่ยวกับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกวาด (Scanning Electron Microscope)
  • 1 : ชิ้นงานที่เป็นโลหะจะต้องเคลือบด้วยคาร์บอนหรือทองจึงจะใช้งานได้
  • 2 : สามารถถ่ายรูปรอยแตกไม่ได้เนื่องจากมีความชัดลึกต่ำ
  • 3 : ใช้ลำอิเล็กตรอนในการกระตุ้นให้เกิดอิเล็กตรอนทุติยภูมิ(secondary electron) เพื่อแสดงภาพ
  • 4 : สามารถวิเคราะห์ธาตุได้ทุกธาตุที่มีเลขอะตอม มากกว่าหรือเท่ากับ 2
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 222 :
  • ชิ้นงานฉนวนไฟฟ้าเมื่อนำไปถ่ายภาพด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนจะสามารถถ่ายภาพได้หรือไม่
  • 1 : สามารถถ่ายภาพได้ตามปกติ
  • 2 : จะเกิด Charging ของอิเล็กตรอนทำให้ภาพสว่างจ้า
  • 3 : จะเกิด Exciting ทำให้เปลี่ยนแปลงส่วนผสม
  • 4 : จะเกิด Evaporation ทำให้เปลี่ยนแปลงส่วนผสม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 223 :
  • ส่วนที่ทำให้เกิดลำอิเล็กตรอนปฐมภูมิในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน คือ
  • 1 : ปืนอิเล็กตรอน (electron gun)
  • 2 : เลนส์แม่เหล็ก (magnetic len)
  • 3 : วินโดว์ที่ทำจากแบริลเลี่ยม
  • 4 : ชิ้นงาน
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 224 :
  • วัสดุซิลิกาที่มีโครงสร้างแบบอะมอฟัส ตรวจสอบด้วย X-Ray Diffractometer แล้วได้ผลอย่างไร
  • 1 : เกิดเป็นพีคตามแบบแฟ้มข้อมูลมาตรฐานของซิลิกา
  • 2 : ไม่ปรากฏพีคที่มุมใดอย่างชัดเจน
  • 3 : เกิดพีคตามแบบแฟ้มข้อมูลมาตรฐานของซิลิกา แต่พีคจะมีการเลื่อนจากมาตรฐานไปเล็กน้อย
  • 4 : ไม่สามารถบรรจุชิ้นงานในเครื่องตรวจสอบได้
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 225 :
  • การคำนวณ lattice parameter จาก ผลการตรวจสอบด้วย X-Ray Diffractometer ใช้หลักการใด
  • 1 : Hall-Petch Relation
  • 2 : Vegard’s Law
  • 3 : Snell’s Law
  • 4 : Bragg’s Law
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 226 :
  • Energy Dispersive Spectrometer ตรวจสอบสารประกอบได้หรือไม่
  • 1 : ไม่ได้
  • 2 : ได้ เฉพาะสารประกอบที่มีพันธะโควาเลนซ์
  • 3 : ได้ เฉพาะสารประกอบที่มีโครงสร้างผลึก
  • 4 : ได้ เฉพาะสารประกอบที่มีพันธะอิออนิก
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 227 :
  • Wavelength Dispersive Spectrometer ตรวจสอบสารประกอบได้หรือไม่
  • 1 : ไม่ได้
  • 2 : ได้ เฉพาะสารประกอบที่มีพันธะโควาเลนซ์
  • 3 : ได้ เฉพาะสารประกอบที่มีโครงสร้างผลึก
  • 4 : ได้ เฉพาะสารประกอบที่มีพันธะอิออนิก
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 228 :
  • Energy Dispersive Spectrometer ตรวจสอบธาตุโดยใช้สัญญาณจากอะไร
  • 1 : พลังงานของอิเล็กตรอนทุติยภูมิ (secondary electron)
  • 2 : ความยาวคลื่นของอิเล็กตรอนทุติยภูมิ (secondary electron)
  • 3 : พลังงานของรังสีเอกซ์เฉพาะตัว (characteristic X-ray)
  • 4 : ความยาวคลื่นของรังสีเอกซ์เฉพาะตัว (characteristic X-ray)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 229 :
  • Wavelength Dispersive Spectrometer ตรวจสอบธาตุโดยใช้สัญญาณจากอะไร
  • 1 : พลังงานของอิเล็กตรอนทุติยภูมิ (secondary electron)
  • 2 : ความยาวคลื่นของอิเล็กตรอนทุติยภูมิ (secondary electron)
  • 3 : พลังงานของรังสีเอกซ์เฉพาะตัว (characteristic X-ray)
  • 4 : ความยาวคลื่นของรังสีเอกซ์เฉพาะตัว (characteristic X-ray)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 230 :
  • สิ่งใดต่อไปนี้ที่ไม่เกิดขึ้นในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
  • 1 : อิเล็กตรอนทุติยภูมิ (secondary electron)
  • 2 : Back scattered electron
  • 3 : ออเจอิเล็กตรอน (Auger electron)
  • 4 : โฟโตอิเล็กตรอน (Photo electron)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 231 :
  • การวิเคราะห์ด้วย X-Ray Diffractometer สามารถตรวจสอบขนาดของผลึกได้หรือไม่ จากอะไร
  • 1 : ไม่ได้
  • 2 : ได้ จากการคำนวณการเลื่อนของพีคตามกฏ Vegard’s law
  • 3 : ได้ จากความกว้างของพีคที่ครึ่งหนึ่งของความสูง (Full Width Half Max) ตาม Scherrer’s Formula
  • 4 : ได้ในบางกรณี ขึ้นอยู่กับพันธะของผลึกในวัสดุ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 232 :
  • เมื่อต้องการตรวจสอบปริมาณการละลายของคาร์บอนในเหล็กด้วย X-Ray Diffractometer สามารถทำได้หรือไม่
  • 1 : ไม่ได้
  • 2 : ได้ จากการคำนวณการเลื่อนของพีคตามกฏ Vegard’s law
  • 3 : ได้ จากความกว้างของพีคที่ครึ่งหนึ่งของความสูง (Full Width Half Max) ตาม Scherrer’s Formula
  • 4 : ได้ โดยการคำนวณจาก Bragg’s law
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 233 :
  • เพราะเหตุใด กล้องจุลทรรศน์แสงจึงนิยมใช้แสงสีเขียว
  • 1 : เพราะว่าเป็นแสงที่สามารถทำให้เกิดได้ง่าย
  • 2 : เพราะว่าเป็นแสงที่ให้ความถี่ต่ำทำให้ได้ภาพคมชัด
  • 3 : เพราะว่าเป็นแสงที่มีความยาวคลื่นต่ำทำให้ resolution สูง
  • 4 : เพราะว่าเป็นแสงที่มีหลายความยาวคลื่นทำให้ได้ภาพที่มีความชัดลึก
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 234 :
  • เครื่องมือใดต่อไปนี้ถ่ายภาพได้
  • 1 : กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
  • 2 : Atomic Absorption
  • 3 : X-ray Photoelectron spectrometer
  • 4 : X-ray Diffractometer
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 235 :
  • ข้อมูลใดต่อไปนี้ไม่สามารถได้จาก X-ray Diffractometer
  • 1 : โครงสร้างผลึก
  • 2 : ชนิดของสารประกอบที่เป็นอะมอฟัส
  • 3 : ขนาดของผลึก
  • 4 : ปริมาณของสารแต่ละชนิด
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 236 :
  • ข้อใดต่อไปนี้เป็นจริง
  • 1 : X-ray Diffractometer ใช้หาระยะห่างระหว่างระนาบต่างเพื่อหาค่าขนาดของโครงผลึกและบอกชนิดของผลึกได้
  • 2 : X-ray Diffractometer ใช้หาค่าขนาดของผลึกได้
  • 3 : X-ray Diffractometer ใช้พลังงานของรังสีเอกซ์ในการบอกชนิดของสาร
  • 4 : X-ray Diffractometer ใช้รังสีเอกซ์ที่มีค่าความยาวคลื่นค่าเดียว
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 237 :
  • กล้องจุลทรรศน์แสงสามารถให้กำลังขยายมากที่สุดเท่าไร
  • 1 : 10 เท่า
  • 2 : 100 เท่า
  • 3 : 1000 เท่า
  • 4 : 100000 เท่า
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 238 :
  • ข้อจำกัดใดของกล้องจุลทรรศน์แสงถูกต้อง
  • 1 : ตรวจสอบขนาดเกรนไม่ได้
  • 2 : ตรวจสอบได้เฉพาะชิ้นงานที่เตรียมผิวให้เรียบมาแล้ว
  • 3 : ตรวจสอบได้เฉพาะชิ้นงานที่นำไฟฟ้าเท่านั้น
  • 4 : ตรวจสอบได้เฉพาะชิ้นงานที่เป็นโลหะเท่านั้น
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 239 :
  • กล้องจุลทรรศน์แสงที่มีกำลังขยายที่เลนส์ตา 10 เท่า เมื่อใช้เลนส์วัตถุ 50 เท่าจะมีกำลังขยายเท่าใด
  • 1 : 5 เท่า
  • 2 : 40 เท่า
  • 3 : 60 เท่า
  • 4 : 500 เท่า
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 240 :
  • ขั้นตอนใดที่ไม่ต้องทำในการตรวจสอบขนาดชิ้นงานด้วยกล้องจุลทรรศน์แสง
  • 1 : ขัดผิวให้เรียบ
  • 2 : กัดกรดหรือสารเคมีที่เหมาะสม
  • 3 : ทำให้ผิวที่จะตรวจสอบได้ระนาบ
  • 4 : เคลือบผิวด้วยทองหรือคาร์บอน
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 241 :
  • วิธีการเตรียมชิ้นงานเพื่อตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์แสงและกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนข้อใดไม่ถูกต้อง
  • 1 : ชิ้นงานที่ตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์แสงต้องทำให้ผิวเรียบได้ระนาบ
  • 2 : ชิ้นงานที่ตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไม่จำเป็นต้องทำให้ผิวเรียบแต่ต้องทำให้นำไฟฟ้า
  • 3 : ชิ้นงานที่ตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์แสงและกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนต้องกัดผิวด้วยสารที่เหมาะสมเพื่อให้ได้ภาพที่มีคุณภาพดี
  • 4 : ชิ้นงานที่ตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์แสงและกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนต้องทำให้ชิ้นงานบางกว่า 100 ไมโครเมตร
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 242 :
  • เทคนิดใดของ X-ray Diffractometer ที่ใช้ตรวจสอบชั้นฟิล์มบาง
  • 1 : theta-2theta
  • 2 : GIXD หรือ GAXD
  • 3 : คำนวนจากการตรวจสอบความเค้นเหลือค้างในชิ้นงาน
  • 4 : คำนวนจากค่าคงที่ของผลึก(lattice parameter)ที่เปลี่ยนแปลง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 243 :
  • การเตรียมตัวอย่างของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกวาด (SEM) กับแบบส่องผ่าน (TEM) แตกต่างกันอย่างไร
  • 1 : ชิ้นงานของ TEM ต้องบางมาก
  • 2 : ชิ้นงานของ SEM จะต้องบางมาก
  • 3 : เตรียมชิ้นงานเหมือนกัน
  • 4 : ชิ้นงานไม่จำเป็นต้องเตรียม สามารถตรวจสอบได้เลย
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 244 :
  • หลักการพื้นฐานของการวิเคราะห์ด้วยวิธี XRF คือ ความเข้มข้นของ secondary x-ray ขึ้นอยู่กับ
  • 1 : ตัวกลางระหว่าง tube กับตัวอย่าง
  • 2 : ความถ่วงจำเพาะของตัวอย่าง
  • 3 : ปริมาณของธาตุในตัวอย่าง
  • 4 : รัศมีอะตอมของธาตุในตัวอย่าง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 245 :
  • ในการวิเคราะห์ด้วยวิธี XRF เมื่อใช้ tungsten (W) tube จะไม่เหมาะสำหรับการวิเคราะห์ธาตุ
  • 1 : Cu
  • 2 : Cu
  • 3 : W
  • 4 : Ca
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 246 :
  • การบอกปริมาณของธาตุในตัวอย่างในการวิเคราะห์ด้วยวิธี XRF สามารถทำได้โดย
  • 1 : เทียบกับตัวอย่างมาตรฐาน (standard)
  • 2 : คำนวณได้โดยตรงจากสูตรความเข้มข้นของ x-ray
  • 3 : คำนวณจากสูตรเคมีของสารประกอบ
  • 4 : การชั่งด้วยตาชั่ง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 247 :
  • ข้อดีของการวิเคราะห์ด้วยเครื่อง XRF แบบ energy dispersive (EDX) คือ
  • 1 : สามารถวิเคราะห์ได้หลายธาตุพร้อมกัน
  • 2 : สามารถวิเคราะห์ธาตุที่มีปริมาณต่ำมาก (ppm) ได้ดี
  • 3 : มี detection limit ต่ำ
  • 4 : เหมาะสำหรับอย่างที่มีปริมาณน้อย
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 248 :
  • ข้อใดที่ไม่ใช่ x-ray detector
  • 1 : Gas-filled
  • 2 : Scintillation
  • 3 : Geiger counter
  • 4 : Photomultiplier
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 249 :
  • องค์ประกอบใดที่ไม่มีผลต่อ matrix effects
  • 1 : Atomic number
  • 2 : Absorption factor
  • 3 : Fluorescence factor
  • 4 : Specific gravity
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 250 :
  • ในการวิเคราะห์ด้วยวิธี XRF ผลการวิเคราะห์ที่ผิดพลาด มักเกิดจาก
  • 1 : ปริมาณของตัวอย่างน้อยเกินไป
  • 2 : ใช้ spectral line ที่ทับซ้อนกัน
  • 3 : ตัวอย่างเป็นผงเม็ดละเอียดมากเกินไป
  • 4 : ตัวอย่างเป็นแบบลูกปัด (bead)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 251 :
  • ข้อใดที่ไม่จำเป็นในการวิเคราะห์แบบ wavelength dispersive XRF
  • 1 : Analyzing crystal
  • 2 : Multi-channel analyzer
  • 3 : Geiger counter
  • 4 : Photomultiplier
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 252 :
  • ข้อใดที่ไม่มีผลต่อการวิเคราะห์ด้วยวิธี XRF
  • 1 : Packing density
  • 2 : Specific gravity
  • 3 : Grain size
  • 4 : Surface roughness
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 253 :
  • Auger electrons หมายถึง
  • 1 : อิเล็กตรอนวงนอกที่หลุดออกมาจากชิ้นงานจากการกระตุ้นของพลังงานที่ได้มาจากความแตกต่างระหว่างระดับพลังงานของอิเล็กตรอนวงในกับอิเล็กตรอนวงนอก
  • 2 : อิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) ที่ตกกระทบชิ้นงาน และกระเจิงกลับออกมาจากชิ้นงานแบบไม่ยืดหยุ่น และมีพลังงานต่ำกว่า 50 eV
  • 3 : อิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) ที่ตกกระทบชิ้นงาน และกระเจิงกลับออกมาจากชิ้นงานแบบไม่ยืดหยุ่น
  • 4 : อิเล็กตรอนวงในของชิ้นงานที่หลุดออกมาจากการชนของอิเล็กตรอนหรือโฟตอน
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 254 :
  • ข้อใดเป็นสัญญาณที่ใช้กระตุ้นชิ้นงาน (Incident beam) ในเทคนิค Auger electron spectroscopy, AES
  • 1 : Ions
  • 2 : Electrons
  • 3 : X-rays or electrons
  • 4 : Auger electrons
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 255 :
  • ข้อใดเป็นระดับสุญญากาศที่ใช้ในเทคนิค Auger electron spectroscopy, AES
  • 1 : Low vacuum
  • 2 : Medium vacuum
  • 3 : High vacuum
  • 4 : Ultra high vacuum
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 256 :
  • ในการวิเคราะห์ผลของเทคนิค Auger electron spectroscopy, AES สมบัติใดของ Auger electrons ที่ใช้ในการวิเคราะห์ธาตุ
  • 1 : Kinetic energy
  • 2 : Wavelength
  • 3 : Diffraction angle
  • 4 : Intensity
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 257 :
  • เทคนิค Auger electron spectroscopy, AES สามารถวิเคราะห์ธาตุต่างๆ ได้ ยกเว้น
  • 1 : H, He
  • 2 : ธาตุที่มี Atomic number > 4
  • 3 : ธาตุที่มี Atomic number > 9
  • 4 : ธาตุที่มี Atomic number > 11
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 258 :
  • ข้อใดไม่ใช่เทคนิควิเคราะห์ของ Auger electron spectroscopy, AES
  • 1 : Line scans
  • 2 : Elemental mapping
  • 3 : Depth profiling
  • 4 : Phase determination
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 259 :
  • เหตุใดการวิเคราะห์ด้วยเทคนิค Auger electron spectroscopy, AES จึงเป็นการวิเคราะห์พื้นผิวที่ลึกไม่เกิน 2 นาโนเมตรเท่านั้น
  • 1 : เพราะสภาวะความเป็นสุญญากาศภายใน ทำให้สัญญาณที่ได้รับลดลง
  • 2 : เพราะพลังงานที่ใช้กระตุ้นชิ้นงานต่ำ
  • 3 : เพราะชิ้นงานที่ได้เกิดการสะสมประจุอย่างต่อเนื่อง
  • 4 : เพราะพลังงานจลน์ของ Auger electrons ค่อนข้างต่ำ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 260 :
  • ข้อใดกล่าวไม่ถูกต้องเกี่ยวกับความหมายของสเปกตรัม “KLL” จากเทคนิค Auger electron spectroscopy, AES
  • 1 : K เป็นระดับพลังงานของอิเล็กตรอน (K shell) ที่มาตกกระทบชิ้นงาน
  • 2 : K เป็นระดับพลังงานของอิเล็กตรอน (K shell) ที่หลุดออกมาจากชิ้นงานเมื่อถูกกระตุ้นโดยอิเล็กตรอนหรือโฟตอน
  • 3 : L ตัวที่ 2 เป็นระดับพลังงานของอิเล็กตรอน (L shell) ที่เข้ามาแทนที่อิเล็กตรอนวงใน (K) ที่หลุดออกไป
  • 4 : L ตัวที่ 3 เป็นระดับพลังงานของอิเล็กตรอน (L shell) ที่หลุดออกมาจากชิ้นงานเมื่อถูกกระตุ้นจากความแตกต่างระหว่างพลังงานของอิเล็กตรอนK shell กับ L shell
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 261 :
  • การวิเคราะห์ Depth profiling ของชิ้นงานด้วยเทคนิค Auger electron spectroscopy, AES ต้องอาศัยสัญญาณใดกระตุ้น
  • 1 : Electrons
  • 2 : Ion beam
  • 3 : Electron and Ion beam
  • 4 : Electron and Photon
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 262 :
  • Photoelectrons หมายถึง
  • 1 : อิเล็กตรอนวงนอกที่หลุดออกมาจากชิ้นงานจากการกระตุ้นของพลังงานที่ได้มาจากความแตกต่างระหว่างระดับพลังงานของอิเล็กตรอนวงในกับอิเล็กตรอนวงนอก
  • 2 : อิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) ที่ตกกระทบชิ้นงาน และกระเจิงกลับออกมาจากชิ้นงานแบบไม่ยืดหยุ่น และมีพลังงานต่ำกว่า 50 eV
  • 3 : อิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) ที่ตกกระทบชิ้นงาน และกระเจิงกลับออกมาจากชิ้นงานแบบไม่ยืดหยุ่น
  • 4 : อิเล็กตรอนวงในของชิ้นงานที่หลุดออกมาจากการชนของอิเล็กตรอนหรือโฟตอน
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 263 :
  • ข้อใดเป็นเทคนิคที่ควรเลือกใช้ในการวิเคราะห์ Oxidation state ของสนิมเหล็กที่เกิดบนผิวของชิ้นงาน
  • 1 : XPS หรือที่เรียกว่า ESCA
  • 2 : SEM
  • 3 : EPMA
  • 4 : XRF
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 264 :
  • ข้อใดเป็นระดับสุญญากาศที่ใช้ในเทคนิค X-ray photoelectron spectroscopy, XPS หรือที่เรียกว่า ESCA
  • 1 : Low vacuum
  • 2 : Medium vacuum
  • 3 : High vacuum
  • 4 : Ultra high vacuum
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 265 :
  • ข้อใดเป็นสัญญาณที่ใช้กระตุ้นชิ้นงาน (Incident beam) ในเทคนิค X-ray photoelectron spectroscopy, XPS หรือที่เรียกว่า ESCA
  • 1 : Ions
  • 2 : Electrons
  • 3 : X-rays
  • 4 : Photoelectrons
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 266 :
  • ข้อใดเป็นข้อมูลที่ใช้ในการวิเคราะห์ชิ้นงาน(Signal) ในเทคนิค X-ray photoelectron spectroscopy, XPS หรือที่เรียกว่า ESCA
  • 1 : Ions
  • 2 : Electrons
  • 3 : X-rays
  • 4 : Photoelectrons
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 267 :
  • พลังงานจลน์ของ Photoelectrons ขึ้นอยู่กับตัวแปรข้อใด
  • 1 : พลังงานของ Incident beam ที่มาตกกระทบชิ้นงาน
  • 2 : ระดับพลังงานจลน์ของอิเล็กตรอนที่ออกมาจากชิ้นงาน
  • 3 : ลักษณะการชนของ Incident beam บนชิ้นงาน
  • 4 : ถูกทุกข้อ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 268 :
  • ข้อใดกล่าวไม่ถูกต้อง
  • 1 : Spatial resolution ของ Auger electron microscopy (AES) ดีกว่า X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
  • 2 : Detection limit ของ Auger electron microscopy (AES) ดีกว่า X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
  • 3 : เทคนิค Auger electron microscopy (AES) และ X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) เป็นการวิเคราะห์พื้นผิวของชิ้นงาน
  • 4 : Depth resolution ของ Auger electron microscopy (AES) ดีกว่า X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 269 :
  • ข้อใดเป็นลักษณะการกระเจิงแบบไม่ยืดหยุ่น (Inelastic scattering) ของอิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) เมื่อตกกระทบชิ้นงาน
  • 1 : อิเล็กตรอนเปลี่ยนทิศทางการเคลื่อนที่ แต่พลังงานคงที่
  • 2 : อิเล็กตรอนมีทิศทางการเคลื่อนที่และพลังงานคงที่
  • 3 : อิเล็กตรอนเปลี่ยนทิศทางการเคลื่อนที่ และพลังงานลดลง
  • 4 : ไม่มีข้อใดถูก
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 270 :
  • อิเล็กตรอนทุติยภูมิ (Secondary electrons) หมายถึง
  • 1 : อิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) ที่ตกกระทบชิ้นงาน และกระเจิงกลับออกมาจากชิ้นงานแบบยืดหยุ่น
  • 2 : อิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) ที่ตกกระทบชิ้นงาน และกระเจิงกลับออกมาจากชิ้นงานแบบไม่ยืดหยุ่น และมีพลังงานต่ำกว่า 50 eV
  • 3 : อิเล็กตรอนที่ปลดปล่อยจากชิ้นงาน ซึ่งเกิดจากการที่ชิ้นงานถูกกระตุ้นโดยการชนแบบยืดหยุ่นจากอิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons)
  • 4 : อิเล็กตรอนที่ปลดปล่อยจากชิ้นงาน และมีพลังงานต่ำกว่า 50 eV ซึ่งเกิดจากการที่ชิ้นงานถูกกระตุ้นโดยการชนแบบไม่ยืดหยุ่นจากอิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 271 :
  • ข้อมูลใดเป็นสัญญาณที่ได้จากอิเล็กตรอนทุติยภูมิ (Secondary electrons) ในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (Secondary electron microscope, SEM)
  • 1 : การเรียงตัวของผลึก (Crystal orientation)
  • 2 : โครงสร้างผลึก (Crystal structure)
  • 3 : ส่วนประกอบทางเคมี (Chemical compositions)
  • 4 : ภาพแสดงลักษณะพื้นผิวของชิ้นงาน (Topography)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 272 :
  • ข้อมูลใดเป็นสัญญาณที่ได้จากอิเล็กตรอนกระเจิงกลับ (Backscattered electrons) ในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (Secondary electron microscope, SEM)
  • 1 : การเรียงตัวของผลึก (Crystal orientation)
  • 2 : โครงสร้างผลึก (Crystal structure)
  • 3 : ภาพที่แสดงให้เห็นถึงความแตกต่างของธาตุตามเลขอะตอม
  • 4 : ภาพแสดงลักษณะพื้นผิวของชิ้นงาน (Topography)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 273 :
  • ปัจจัยข้อใดที่มีผลต่อขนาดของปริมาตรที่เกิดอันตรกิริยา (Interaction volume) ในชิ้นงาน เมื่ออิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) ตกกระทบชิ้นงาน
  • 1 : พลังงานของอิเล็กตรอนปฐมภูมิ
  • 2 : ความหนาแน่นของชิ้นงาน
  • 3 : เลขอะตอมของธาตุในชิ้นงาน
  • 4 : ถูกทุกข้อ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 274 :
  • Sensitivity หรือ Detection limit หมายถึง
  • 1 : ปริมาณที่น้อยที่สุดของธาตุแต่ละชนิดในชิ้นงานที่เครื่องมือสามารถตรวจพบได้
  • 2 : ความลึกที่สุดจากผิวชิ้นงานที่เครื่องมือสามารถวิเคราะห์ส่วนประกอบทางเคมีได้
  • 3 : ขนาดเส้นผ่าศูนย์กลางที่เล็กที่สุดที่เครื่องมือสามารถวิเคราะห์ส่วนประกอบทางเคมีได้
  • 4 : จำนวนธาตุที่มากที่สุดที่เครื่องมือสามารถวิเคราะห์ได้จากชื้นงานในแต่ละครั้ง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 275 :
  • ข้อใดเป็นปัญหาที่เกิดจากการวิเคราะห์ชิ้นงานที่ไม่นำไฟฟ้า (Nonconductive samples) บนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (Secondary electron microscope, SEM)
  • 1 : ทำให้ชิ้นงานเกิดการบิดงอหรือเปลี่ยนรูปขณะทำการวิเคราะห์
  • 2 : เกิดการสะสมอิเล็กตรอนบนชิ้นงาน ทำให้เกิดผลกระทบต่อการวิเคราะห์หรือภาพที่ได้
  • 3 : ชิ้นงานเกิดการสูญเสียน้ำ ทำให้ผลการวิเคราะห์คลาดเคลื่อน
  • 4 : ไม่เกิดปัญหาแต่อย่างใด
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 276 :
  • ข้อใดไม่ใช่ชนิดของ Electron guns ที่ใช้ในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน SEM และ TEM
  • 1 : Tungsten hairpin
  • 2 : LaB6
  • 3 : Field emission
  • 4 : Wehnelt cup
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 277 :
  • อิเล็กตรอนกระเจิงกลับ (Backscattered electrons) หมายถึง
  • 1 : อิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) ที่ตกกระทบชิ้นงาน และกระเจิงกลับออกมาจากชิ้นงานแบบยืดหยุ่น
  • 2 : อิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) ที่ตกกระทบชิ้นงาน และกระเจิงกลับออกมาจากชิ้นงาน และเป็นการชนแบบไม่ยืดหยุ่น
  • 3 : อิเล็กตรอนที่ปลดปล่อยจากชิ้นงาน ซึ่งเกิดจากการที่ชิ้นงานถูกกระตุ้นโดยการชนแบบยืดหยุ่นจากอิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons)
  • 4 : อิเล็กตรอนที่ปลดปล่อยจากชิ้นงาน และมีพลังงานต่ำกว่า 50 eV ซึ่งเกิดจากการที่ชิ้นงานถูกกระตุ้นโดยการชนแบบไม่ยืดหยุ่นจากอิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 278 :
  • กำลังขยาย (Magnification) ของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (Secondary electron microscope, SEM) ปรับได้โดย
  • 1 : ปรับระยะกวาด (Scan length) ของลำอิเล็กตรอนบนชิ้นงาน
  • 2 : ปรับระยะโฟกัส (Focal length) ของลำอิเล็กตรอน
  • 3 : ปรับความเข้มของเลนส์วัตถุ (Strength of objective lens)
  • 4 : ปรับกระแสของ Electron gun
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 279 :
  • Spot size หรือ Probe size หมายถึง
  • 1 : ระยะทางที่เล็กที่สุดระหว่างจุดสองจุดที่สามารถแยกแยะได้
  • 2 : ขนาดเส้นผ่าศูนย์กลางของลำอิเล็กตรอนบนชิ้นงาน
  • 3 : ขนาดของจุดบนชิ้นงานที่ถูกแสดงเป็นข้อมูล 1 จุดบน CRT
  • 4 : ระยะความลึกที่สูงกว่าหรือต่ำกว่าระนาบที่เกิด Optimum focus แล้วภาพยังไม่เกิดการ blurring
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 280 :
  • Picture element หมายถึง
  • 1 : ระยะทางที่เล็กที่สุดระหว่างจุดสองจุดที่สามารถแยกแยะได้
  • 2 : ขนาดเส้นผ่าศูนย์กลางของลำอิเล็กตรอนบนชิ้นงาน
  • 3 : ขนาดของจุดบนชิ้นงานที่ถูกแสดงเป็นข้อมูล 1 จุดบน CRT
  • 4 : ระยะความลึกที่สูงกว่าหรือต่ำกว่าระนาบที่เกิด Optimum focus แล้วภาพยังไม่เกิดการ blurring
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 281 :
  • Depth of field หมายถึง
  • 1 : ระยะทางที่เล็กที่สุดระหว่างจุดสองจุดที่สามารถแยกแยะได้
  • 2 : ขนาดเส้นผ่าศูนย์กลางของลำอิเล็กตรอนบนชิ้นงาน
  • 3 : ขนาดของจุดบนชิ้นงานที่ถูกแสดงเป็นข้อมูล 1 จุดบน CRT
  • 4 : ระยะความลึกที่สูงกว่าหรือต่ำกว่าระนาบที่เกิด Optimum focus แล้วภาพยังไม่เกิดการ blurring
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 282 :
  • จากภาพ 2 ภาพด้านล่าง ด้านบนเป็นภาพที่ได้จาก Optical Microscope ในขณะที่ด้านล่างเป็นภาพจาก SEM ให้พิจารณาว่าภาพทั้งสองนี้เป็นการเปรียบเทียบให้เห็นข้อได้เปรียบข้อใดของ SEM ที่มีเหนือกว่า Optical microscope
  • 1 : Resolution
  • 2 : Magnification
  • 3 : Depth of field
  • 4 : Detection limit
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 283 :
  • จากรูปด้านล่าง ข้อใดเป็นสัญญาณที่ได้มาจากบริเวณ (a)
  • 1 : Auger electrons
  • 2 : Secondary electrons
  • 3 : Backscattered electrons
  • 4 : Characteristics x-rays
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 284 :
  • จากรูปด้านล่าง ข้อใดเป็นสัญญาณที่ได้มาจากบริเวณ (b)
  • 1 : Auger electrons
  • 2 : Secondary electrons
  • 3 : Backscattered electrons
  • 4 : Characteristics x-rays
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 285 :
  • จากรูปด้านล่าง ข้อใดเป็นสัญญาณที่ได้มาจากบริเวณ (c)
  • 1 : Continuous x-rays
  • 2 : Secondary electrons
  • 3 : Backscattered electrons
  • 4 : Characteristics x-rays
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 286 :
  • จากรูปด้านล่าง ข้อใดเป็นสัญญาณที่ได้มาจากบริเวณ (d)
  • 1 : Continuous x-rays
  • 2 : Secondary electrons
  • 3 : Backscattered electrons
  • 4 : Characteristics x-rays
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 287 :
  • จากรูปด้านล่าง ข้อใดเป็นสัญญาณที่ได้มาจากบริเวณ (e)
  • 1 : Continuous x-rays
  • 2 : Secondary electrons
  • 3 : Backscattered electrons
  • 4 : Characteristics x-rays
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 288 :
  • สัญญาณในข้อใดจากเทคนิค Secondary electron microscopy, SEM ที่นำไปใช้ในการวิเคราะห์ส่วนประกอบทางเคมี
  • 1 : Secondary electrons
  • 2 : Backscattered electrons
  • 3 : Characteristics x-rays
  • 4 : Auger electrons
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 289 :
  • ข้อใดเป็น Detector ที่นิยมใช้ในการวิเคราะห์ส่วนประกอบทางเคมีของเทคนิค Secondary electron microscopy, SEM
  • 1 : Energy dispersive spectrometer (EDS)
  • 2 : Everhart-Thornley detector
  • 3 : Scintillator detector
  • 4 : Solid state detector
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 290 :
  • ข้อใดเป็น Detector ที่นิยมใช้ในการสร้างภาพจาก Secondary electrons ของเทคนิค Secondary electron microscopy, SEM
  • 1 : Energy dispersive spectrometer (EDS)
  • 2 : Everhart-Thornley detector
  • 3 : Wavelength dispersive spectrometer (WDS)
  • 4 : Solid state detector
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 291 :
  • ข้อใดเป็น Detector ที่นิยมใช้ในการสร้างภาพจาก Backscattered electrons ของเทคนิค Secondary electron microscopy, SEM
  • 1 : Energy dispersive spectrometer (EDS)
  • 2 : Everhart-Thornley detector
  • 3 : Wavelength dispersive spectrometer (WDS)
  • 4 : Solid state detector
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 292 :
  • กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (Secondary electron microscope, SEM) ที่ใช้กันอยู่ทั่วไปต้องการสภาวะความเป็นสุญญากาศเช่นใด
  • 1 : Low vacuum pressure
  • 2 : Medium vacuum pressure
  • 3 : High vacuum pressure
  • 4 : Ultra high vacuum pressure
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 293 :
  • จุดประสงค์หลักของการวิเคราะห์โลหะด้วยเทคนิค Electron probe microanalyzer (EPMA) คือ
  • 1 : หาส่วนประกอบทางเคมีของตัวอย่างโดยวิเคราะห์จาก Characteristic x-rays ที่ปลดปล่อยออกมาจากตัวอย่าง
  • 2 : หาส่วนประกอบทางเคมีของตัวอย่างโดยวิเคราะห์จาก Backscattered electrons ที่สะท้อนกลับออกมาจากตัวอย่าง
  • 3 : ใช้สัญญาณ Secondary electrons มาสร้างภาพ (Image) เพื่อศึกษาขนาดและการกระจายตัวของอนุภาคที่มีขนาดเล็ก
  • 4 : ใช้วิเคราะห์โครงสร้างผลึกของตัวอย่าง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 294 :
  • ข้อใดเป็นสัญญาณที่ใช้กระตุ้นชิ้นงาน (Incident beam) ใน EPMA
  • 1 : Scanned electron beam
  • 2 : Monochromatic x-rays
  • 3 : Electron beam
  • 4 : Ions
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 295 :
  • การวิเคราะห์ส่วนประกอบทางเคมีซึ่งมีปริมาตรที่เกิดอันตรกิริยาขนาดเล็ก (A small interaction volume) แสดงให้เห็นถึง
  • 1 : A high spatial resolution
  • 2 : A high sensitivity
  • 3 : A large escape depth
  • 4 : A large penetration depth
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 296 :
  • ข้อใดเป็นสัญญาณที่ใช้ในการฟอร์มภาพ Bright field (BF) ใน TEM
  • 1 : Transmitted electrons
  • 2 : Diffracted electrons
  • 3 : Backscattered electrons
  • 4 : Secondary electrons
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 297 :
  • ข้อใดเป็นสัญญาณที่ใช้ในการฟอร์มภาพ Dark field (DF) ใน TEM
  • 1 : Transmitted electrons
  • 2 : Diffracted electrons
  • 3 : Backscattered electrons
  • 4 : Secondary electrons
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 298 :
  • เทคนิคใดที่ควรเลือกใช้ในการวิเคราะห์ส่วนประกอบทางเคมีของวัตถุโบราณที่มีขนาดประมาณ 5 ไมครอน
  • 1 : XRD
  • 2 : EPMA
  • 3 : TEM
  • 4 : XPS
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 299 :
  • เทคนิคใดที่ควรเลือกใช้ในการวิเคราะห์หาขนาดและการกระจายตัวของ CdS nanocrystals
  • 1 : EPMA
  • 2 : SEM
  • 3 : TEM
  • 4 : AEM
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 300 :
  • ข้อมูลใดไม่สามารถหาได้จาก Bright field (BF) และ Dark field (DF) imaging
  • 1 : Average particle size
  • 2 : Density of second phase particles
  • 3 : Dislocation density
  • 4 : Chemical composition
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 301 :
  • เทคนิคใดที่ควรเลือกใช้ในการศึกษาลักษณะ Fracture surface
  • 1 : Optical microscope
  • 2 : SEM
  • 3 : TEM
  • 4 : XRD
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 302 :
  • Pump ในข้อใดที่เรามักเลือกใช้กับระบบสุญญากาศของ SEM
  • 1 : Diffusion pump
  • 2 : Rotary vane pump และ Diffusion pump
  • 3 : Rotary vane pump และ Ion pump
  • 4 : Diffusion pump และ Ion pump
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 303 :
  • ข้อใดเป็น Image ที่ได้จากการฟอร์มภาพของ TEM ในรูปด้านล่าง
  • 1 : Bright field image
  • 2 : Dark field image
  • 3 : Secondary electron image
  • 4 : Backscattered electron image
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 304 :
  • ข้อใดเป็น Image ที่ได้จากการฟอร์มภาพของ TEM ในรูปด้านล่าง
  • 1 : Bright field image
  • 2 : Dark field image
  • 3 : Secondary electron image
  • 4 : Backscattered electron image
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 305 :
  • ข้อใดเป็น X-ray microanalyzer ที่ติดตั้งบน EPMA ซึ่งทำให้การวิเคราะห์ส่วนประกอบทางเคมีของ EPMA เหนือกว่า SEM
  • 1 : Energy dispersive x-ray detector (EDS)
  • 2 : Everhart-Thornley detector
  • 3 : Wavelength dispersive spectrometer (WDS)
  • 4 : Solid state detector
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 306 :
  • ข้อใดเปรียบเทียบระหว่าง WDS และ EDS ได้ไม่ถูกต้อง
  • 1 : Energy resolution ของ WDS ดีกว่า EDS
  • 2 : Sensitivity ของ WDS ดีกว่า EDS
  • 3 : Analysis time ของ WDS เร็วกว่า EDS
  • 4 : Peak-to-background ratio ของ WDS ดีกว่า EDS
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 307 :
  • ทำไม Electron microscope จึงมี Resolution ที่ดีกว่า Optical microscope
  • 1 : เพราะเลนส์ที่ใช้ใน Electron microscope เป็น Electromagnetic lens
  • 2 : เพราะ Electron microscope มีจำนวนเลนส์มากกว่าใน Optical microscope
  • 3 : เพราะ Electrons ใน Electron microscope มีความยาวคลื่นสั้นกว่า Photons ใน Optical microscope
  • 4 : เพราะราคาของ Electron microscope แพงกว่า Optical microscope
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 308 :
  • ข้อมูล Spots diffraction patterns จาก TEM นำไปใช้ประโยชน์ในการวิเคราะห์
  • 1 : Crystal phases
  • 2 : Crystal structure
  • 3 : Crystal orientation
  • 4 : ถูกทุกข้อ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 309 :
  • ข้อใดเป็นตัวกำหนด Resolution ใน TEM
  • 1 : Accelerating voltage
  • 2 : Magnification
  • 3 : Working distance
  • 4 : Depth of focus
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 310 :
  • ข้อใดที่เป็นขอบเขตความสามารถในการวิเคราะห์ของ TEM ที่เหนือกว่า SEM
  • 1 : Electron Diffraction patterns
  • 2 : Atomic structure
  • 3 : Crystal orientation
  • 4 : ถูกทุกข้อ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 311 :
  • ภายใต้สภาวะที่กำหนด ข้อใดมี Resolution ดีที่สุด
  • 1 : 100 keV accelerating voltage
  • 2 : 100 k magnification
  • 3 : 200 keV accelerating voltage
  • 4 : 200 k magnification
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 312 :
  • เลนส์ตัวใดบน TEM ที่ใช้โฟกัสลำอิเล็กตรอนลงบนชิ้นงานตามตำแหน่งที่ต้องการ
  • 1 : Objective lens
  • 2 : Condenser lens
  • 3 : Intermediate lens
  • 4 : Projector lens
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 313 :
  • ข้อใดเป็นแลททิซพารามิเตอร์ของโลหะ BCC เกรนเดี่ยวชนิดหนึ่งที่มีการเรียงตัวในระนาบ (110) เมื่อผลการวิเคราะห์โดยเทคนิค XRD ที่ใช้รังสี x-rays ความยาวคลื่น 1.790 อังสตรอมปรากฏสัญญาณ (Peak) ขึ้นที่มุม 2Theta เท่ากับ 52.05 องศา
  • 1 : 3.152 อังสตรอม
  • 2 : 2.885 อังสตรอม
  • 3 : 4.078 อังสตรอม
  • 4 : 2.986 อังสตรอม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 314 :
  • Characteristics X-rays เกิดจากข้อใด
  • 1 : พลังงานที่ปลดปล่อยจากอะตอมในรูปของรังสี X-rays เมื่ออิเล็กตรอนชั้นนอกของอะตอมถูกกระตุ้นให้หลุดออกจากอะตอม
  • 2 : พลังงานที่ปลดปล่อยจากอะตอมในรูปของรังสี X-rays เมื่ออะตอมได้รับความร้อน
  • 3 : พลังงานที่ปลดปล่อยจากอะตอมในรูปของรังสี X-rays จากการที่อิเล็กตรอนปฐมภูมิเปลี่ยนทิศทางการเคลื่อนที่
  • 4 : พลังงานที่ปลดปล่อยจากอะตอมในรูปของรังสี X-rays จากการที่อิเล็กตรอนชั้นในของอะตอมถูกกระตุ้นให้หลุดออกไปและอิเล็กตรอนวงถัดไปเข้ามาแทนที่
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 315 :
  • เมื่ออิเล็กตรอนวงในของอะตอมถูกกระตุ้นให้หลุดออกไป ทำให้อะตอมอยู่ในสภาวะ Excitation การคืนสภาพหรือลดพลังงานของอะตอมสู่สภาวะปกติ ทำได้โดยการปลดปล่อยพลังงานในรูปใดบ้าง
  • 1 : Auger electron, Characteristics x-ray, Cathodoluminescence
  • 2 : Auger electron, Continuous x-rays, Cathodoluminescence
  • 3 : Auger electron, Characteristics x-ray, Continuous x-rays, Cathodoluminescence
  • 4 : Characteristics x-ray, Continuous x-rays, Cathodoluminescence
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 316 :
  • ข้อใดกล่าวไม่ถูกต้องเกี่ยวกับเทคนิค XRD
  • 1 : รังสี X-ray ที่ใช้เป็นรังสีที่มีความยาวคลื่นค่าเดียว (Monochromatic x-ray)
  • 2 : ผลจากการวิเคราะห์แสดงให้เห็นปริมาณของธาตุแต่ละชนิดที่มีอยู่ในตัวอย่าง
  • 3 : ตัวอย่างที่วิเคราะห์ต้องเป็นผลึก
  • 4 : การสะท้อนของรังสี X-ray เป็นไปตามกฎของแบรกส์ (Bragg’s law)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 317 :
  • ข้อมูลด้านล่างแสดงให้เห็นระดับพลังงานอิเล็กตรอนของโลหะ Erbium, Hafnium, Tantalum และ Tungsten ให้หาว่า Characteristic x-ray ของธาตุใดมีพลังงานเท่ากับ 55,752 eV
  • 1 : Erbium
  • 2 : Hafnium
  • 3 : Tantalum
  • 4 : Tungsten
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 318 :
  • ข้อใดเป็นพลังงานของ x-ray จากโลหะทังสเตน (Tungsten) กำหนดให้ระดับพลังงานอิเล็กตรอนของโลหะ Tungsten เป็นดังนี้ K shell = -69,510 eV , L shell = -10,200 eV และ M shell = -1,814 eV
  • 1 : 67,696 eV
  • 2 : 59,310 eV
  • 3 : 57,496 eV
  • 4 : 8,386 eV
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 319 :
  • ข้อใดเป็นพลังงานของ K-alpha x-ray จากโลหะทังสเตน (Tungsten) กำหนดให้ระดับพลังงานอิเล็กตรอนของโลหะ Tungsten เป็นดังนี้ K shell = -69,510 eV , L shell = -10,200 eV และ M shell = -1,814 eV
  • 1 : 67,696 eV
  • 2 : 59,310 eV
  • 3 : 57,496 eV
  • 4 : 8,386 eV
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 320 :
  • ข้อใดเป็นพลังงานของ K-beta x-ray จากโลหะทังสเตน (Tungsten) กำหนดให้ระดับพลังงานอิเล็กตรอนของโลหะ Tungsten เป็นดังนี้ K shell = -69,510 eV , L shell = -10,200 eV และ M shell = -1,814 eV
  • 1 : 67,696 eV
  • 2 : 59,310 eV
  • 3 : 57,496 eV
  • 4 : 8,386 eV
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 321 :
  • ข้อมูลที่ใช้ในการวิเคราะห์ตัวอย่าง (Information signals) ในเทคนิค XRD คือ
  • 1 : Secondary x-ray
  • 2 : Diffracted x-ray
  • 3 : Continuous x-ray
  • 4 : Back reflected x-ray
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 322 :
  • ข้อใดเป็นสภาวะสุญญากาศใน XRD
  • 1 : No vacuum
  • 2 : Low vacuum
  • 3 : Medium vacuum
  • 4 : High vacuum
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 323 :
  • ข้อใดเป็นพลังงานของ K-alpha x-ray จาก Tungsten กำหนดให้ระดับพลังงานอิเล็กตรอนของโลหะดีบุก (Tin) เป็นดังนี้ K shell = -29,199 eV , L shell = -3,929 eV และ M shell = -709 eV
  • 1 : 28,490
  • 2 : 25,270
  • 3 : 24,561
  • 4 : 3,220
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 324 :
  • Characteristic x-ray ที่มีพลังงาน 10,553 eV จากโลหะตะกั่ว (Lead) เป็น X-ray แบบใด กำหนดให้ระดับพลังงานอิเล็กตรอน K shell = -88,018 eV , L shell = -13,773 eV และ M shell = -3,220 eV
  • 1 : K-alpha
  • 2 : K-beta
  • 3 : L-alpha
  • 4 : L-beta
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 325 :
  • X-ray tube เป็นหลอดกำเนิดสัญญาณ X-ray ที่ใช้ในเทคนิค XRD โดยอาศัยการชนของอนุภาคข้อใดบนโลหะหนักแล้วก่อให้เกิด X-ray จากโลหะหนักขึ้น
  • 1 : Photon
  • 2 : Electron
  • 3 : Ion
  • 4 : Microwave
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 326 :
  • ในการวิเคราะห์ผลของเทคนิค XRD ต้องอาศัยกฎของแบรกส์ (Bragg’s law) ให้พิจารณาว่าตัวแปรข้อใดเป็นตัวแปรที่ไม่ทราบค่าก่อนการวิเคราะห์
  • 1 : ไม่มี
  • 2 : ความยาวคลื่น
  • 3 : d-spacing
  • 4 : มุม Theta
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 327 :
  • ข้อใดเป็นเทคนิคที่ควรเลือกใช้ในการวิเคราะห์ Crystalline phases ในวัสดุเซรามิกส์
  • 1 : XRF
  • 2 : XRD
  • 3 : EPMA
  • 4 : XPS
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 328 :
  • ข้อใดเป็นเทคนิคที่ควรเลือกใช้ในการวิเคราะห์ธาตุที่ประกอบของเม็ดสี (Pigments) ในสี
  • 1 : XRF
  • 2 : XPS
  • 3 : XRD
  • 4 : EPMA
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 329 :
  • สัญญาณ (Incident beam) ที่ใช้ในการกระตุ้นตัวอย่างในเทคนิค XRF คือ
  • 1 : Monochromatic x-ray
  • 2 : White x-ray
  • 3 : Electrons
  • 4 : Ions
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 330 :
  • ข้อมูลที่ใช้ในการวิเคราะห์ตัวอย่าง (Information signals) ในเทคนิค XRF คือ
  • 1 : Secondary x-ray
  • 2 : Diffracted x-ray
  • 3 : Continuous x-ray
  • 4 : Back reflected x-ray
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 331 :
  • ในการวิเคราะห์ผลของ WDS ต้องอาศัยกฎของแบรกส์ (Bragg’s law) ให้พิจารณาว่าตัวแปรข้อใดเป็นตัวแปรที่ไม่ทราบค่าก่อนการวิเคราะห์
  • 1 : ไม่มี
  • 2 : ความยาวคลื่น
  • 3 : d-spacing
  • 4 : มุม Theta
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 332 :
  • ข้อใดเป็นเทคนิคที่ควรเลือกใช้ในการวิเคราะห์ Bulk elemental analysis ของซุปเปอร์อัลลอย
  • 1 : XRD
  • 2 : XRF
  • 3 : SEM
  • 4 : TEM
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 333 :
  • ข้อใดไม่ใช่ Detector ที่ใช้ใน XRD
  • 1 : Gas-filled counter
  • 2 : Scintillation counter
  • 3 : Semiconductor counter
  • 4 : Energy dispersive spectrometer
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 334 :
  • ข้อใดเป็น Detector ที่ใช้ใน XRF
  • 1 : Gas-filled counter
  • 2 : Scintillation counter
  • 3 : Semiconductor counter
  • 4 : Wavelength dispersive spectrometer
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 335 :
  • Powder X-ray Diffractometer เครื่องหนึ่งสามารถเก็บข้อมูลในช่วงมุม Theta เท่ากับ 2.5-75 องศา ถ้าต้องการวิเคราะห์เฟสที่มี d-spacing เท่ากับ 0.65 อังสตรอม ควรใช้หลอด X-ray แบบใด
  • 1 : Cu-tube (K-alpha = 1.54 อังสตรอม)
  • 2 : Cr-tube (K-alpha = 2.29 อังสตรอม)
  • 3 : Mo-tube (K-alpha = 0.709 อังสตรอม)
  • 4 : Co-tube ((K-alpha = 1.789 อังสตรอม)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 336 :
  • ผลการวิเคราะห์จากเทคนิค XRD อยู่ในรูปของ
  • 1 : Intensity v.s. 2Theta
  • 2 : Intensity v.s. Energy
  • 3 : Intensity v.s. Wavelength
  • 4 : Energy v.s. 2Theta
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 337 :
  • ข้อใดกล่าวไม่ถูกต้องเกี่ยวกับเทคนิค XRF
  • 1 : สามารถนำมาวิเคราะห์ธาตุของอนุภาคขนาด 10 ไมครอน
  • 2 : สามารถวิเคราะห์ตัวอย่างที่เป็นของเหลว
  • 3 : สามารถวิเคราะห์ธาตุที่มีเลขอะตอม > 9
  • 4 : Detector ที่ใช้เป็น EDS หรือ WDS
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 338 :
  • ผลการวิเคราะห์จาก EDS อยู่ในรูปของ
  • 1 : Intensity v.s. 2Theta
  • 2 : Intensity v.s. Energy
  • 3 : Intensity v.s. Wavelength
  • 4 : Energy v.s. 2Theta
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 339 :
  • ผลการวิเคราะห์จาก WDS อยู่ในรูปของ
  • 1 : Intensity v.s. 2Theta
  • 2 : Wavelength v.s. Energy
  • 3 : Intensity v.s. Wavelength
  • 4 : Wavelength v.s. 2Theta
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 340 :
  • Powder X-ray Diffractometer เครื่องหนึ่งสามารถเก็บข้อมูลในช่วงมุม Theta = 2.5-75 องศา ถ้าต้องการวิเคราะห์เฟสที่มี d-spacing เท่ากับ 22 อังสตรอมควรใช้หลอด X-ray แบบใด
  • 1 : Cu-tube (K-alpha = 1.54 อังสตรอม)
  • 2 : Cr-tube (K-alpha = 2.29 อังสตรอม)
  • 3 : Mo-tube (K-alpha = 0.709อังสตรอม)
  • 4 : Co-tube (K-alpha = 1.789 อังสตรอม)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 341 :
  • เครื่อง Optical Emission Spectrometer แบบ Spark source โดยทั่วไปไม่ใช้สำหรับวิเคราะห์หาปริมาณธาตุในโลหะกลุ่มใด
  • 1 : โลหะกลุ่มเหล็ก (Fe base)
  • 2 : โลหะกลุ่มทองแดง (Cu base)
  • 3 : โลหะกลุ่มอลูมิเนียม (Al base)
  • 4 : โลหะบัดกรี (โลหะผสมตะกั่ว-ดีบุก)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 342 :
  • ข้อใดเป็นข้อจำกัดของชิ้นงานตัวอย่าง (sample) สำหรับเครื่อง OEM แบบ spark source
  • 1 : ชิ้นงานตัวอย่างต้องเป็นของแข็งที่นำไฟฟ้าได้
  • 2 : ชิ้นงานตัวอย่างต้องเป็นฉนวนไฟฟ้า
  • 3 : ชิ้นงานตัวอย่างต้องเป็นของเหลว
  • 4 : ชิ้นงานตัวอย่างต้องมีลักษณะเป็นผง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 343 :
  • เครื่อง OEM แบบ Spark Source ไม่เหมาะกับการประยุกต์ใช้งานในด้านใด
  • 1 : อุตสาหกรรมด้านการหล่อเหล็ก และผลิตเหล็กกล้า
  • 2 : การตรวจสอบวัตถุดิบ (โลหะผสมอลูมิเนียม) ที่จะนำมาขึ้นรูป(extrusion)เป็นผลิตภัณฑ์
  • 3 : การวิเคราะห์หาปริมาณ SiC dispersion ในวัสดุผสม Aluminum-SiC
  • 4 : การวิเคราะห์หาธาตุเจือในโลหะผสมทองแดง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 344 :
  • ข้อใด ไม่ใช่ ชนิดของ Emission Source ในเครื่อง OEM
  • 1 : High-voltage sparks
  • 2 : Induction furnace
  • 3 : Flame
  • 4 : Glow discharge
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 345 :
  • ภาวะที่อะตอมของธาตุได้รับพลังงาน จึงทำให้ electron ขยับไปสู่วงนอก (ชั้นถัดไป) มีชื่อเรียกว่าอย่างไร
  • 1 : Excited state
  • 2 : Ground state
  • 3 : Normal state
  • 4 : Abnormal state
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 346 :
  • ข้อใด ไม่ใช่ ส่วนประกอบโดยทั่วไปของเครื่อง OEM แบบ spark source
  • 1 : Spark Source
  • 2 : Tube furnace
  • 3 : หัววัดแสงชนิด photomultiplier tube
  • 4 : ระบบสุญญากาศ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 347 :
  • ข้อใด ไม่ ถูกต้อง
  • 1 : ข้อดีของการวิเคราะห์ธาตุส่วนผสมในโลหะด้วยเครื่อง OEM แบบ spark source คือ มีความเที่ยงตรงและรวดเร็ว
  • 2 : ความเที่ยงตรงของการวิเคราะห์ธาตุส่วนผสมในโลหะด้วยเครื่อง OEM แบบ spark source ขึ้นอยู่กับการปรับเทียบโดยใช้โลหะมาตรฐาน
  • 3 : เครื่อง OEM แบบ Spark source สามารถวิเคราะห์หาปริมาณธาตุต่าง ๆ ในโลหะ ได้ต่ำถึงระดับ ppm
  • 4 : การวิเคราะห์ธาตุส่วนผสมในโลหะด้วยเครื่อง OEM แบบ spark source มีการเตรียม ตัวอย่างยุ่งยาก ซับซ้อน กล่าวคือต้องนำมาขัดให้มีความบางมากๆ (น้อยกว่า 1mm)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 348 :
  • จากภาพที่แสดง จงบอกชื่อของอิเล็กตรอนที่หลุดออกจากอะตอมในภาพ
  • 1 : โฟโตอิเล็กตรอน (Photoelectron)
  • 2 : ออเจอิเล็กตรอน (Auger electron)
  • 3 : แบคสแกตเตอริง อิเล็กตรอน (Back scattering electron)
  • 4 : อิเล็กตรอนทุติยภูมิ (Secondary electron)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 349 :
  • จากภาพที่แสดง จงบอกชื่อของอิเล็กตรอนที่หลุดออกจากอะตอมในภาพ
  • 1 : โฟโตอิเล็กตรอน (Photoelectron)
  • 2 : ออเจอิเล็กตรอน (Auger electron)
  • 3 : แบคสแกตเตอริ่งอิเล็กตรอน (Back scattering electron)
  • 4 : อิเล็กตรอนทุติยภูมิ (Secondary eletron)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 350 :
  • พลังงานจลน์ที่ตรวจสอบได้จากโฟโตอิเล็กตรอน(Photoelectron, Ek) มีความสัมพันธ์กับพลังงานพันธะ(Binding Energy, Eb)ของอะตอมอย่างไร
  • 1 : พลังงานพันธะ เท่ากับ พลังงานของโฟตอนลบด้วยพลังงานจลน์ที่ได้จากโฟโตอิเล็กตรอน
  • 2 : พลังงานพันธะ เท่ากับ พลังงานของโฟตอนบวกด้วยพลังงานจลน์ที่ได้จากโฟโตอิเล็กตรอน
  • 3 : พลังงานพันธะคูณสอง เท่ากับ พลังงานของโฟตอนลบด้วยพลังงานจลน์ที่ได้จากโฟโตอิเล็กตรอน
  • 4 : ไม่มีความเกี่ยวข้องกัน
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 351 :
  • เมื่อวิเคราะห์ CrN และ Cr2N จะพบว่าพลังงานพันธะ(binding energy)ของโครเมียมและไนโตรเจนมีค่าเท่ากันหรือไม่
  • 1 : ค่าที่วัดได้ไม่แน่นอน ขึ้นอยูกับวิธีที่ใช้ในการตรวจสอบ
  • 2 : เท่ากัน
  • 3 : ค่าไม่เท่ากัน เนื่องจากพลังงานพันธะของอิเล็กตรอนในแต่ละสารประกอบมีค่าไม่เท่ากัน
  • 4 : ค่าพลังงานพันธะของโครเมียมไม่เท่ากัน แต่ค่าพลังงานพันธะของไนโตรเจนมีค่าเท่ากัน เนื่องจากเป็นธาตุเบา
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 352 :
  • ข้อใดกล่าวไม่ถูกต้องเกี่ยวกับพลังงานของออเจอิเล็กตรอน (Auger electron)
  • 1 : พลังงานที่ได้จากอิเล็กตรอนที่หลุดออกจากชั้นพลังงานที่แตกต่างกันมีค่าไม่เท่ากัน
  • 2 : พลังงานที่ได้จากอิเล็กตรอนที่หลุดออกจากธาตุต่างชนิดกัน จะมีค่าไม่เท่ากัน
  • 3 : พลังงานของออเจอิเล็กตรอนที่หลุดออกจากอะตอมจากชั้นพลังงานใดๆจะมีค่าคงที่เสมอ
  • 4 : ค่าพลังงานของออเจอิเล็กตรอนของอะตอมใดๆไม่ขึ้นกับสภาวะแวดล้อม เช่น พันธะทางเคมี
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 353 :
  • การตรวจสอบ วิเคราะห์สารโดยใช้ AES (Auger Electron Spectroscope) สามารถตรวจสอบสารประกอบได้หรือไม่
  • 1 : ได้ โดยการพิจารณาการเลื่อนของพีค N(E)
  • 2 : ได้โดยการตรวจสอบค่าพลังงานของรังสีเอกซ์
  • 3 : ได้โดยการตรวจสอบพลังงานของโฟโตอิเล็กตรอน
  • 4 : ไม่ได้
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 354 :
  • ข้อใดต่อไปนี้กล่าวไม่ถูกต้องเกี่ยวกับการตรวจสอบเชิงปริมาณด้วย AES (Auger Electron Spectroscope)
  • 1 : การตรวจสอบเชิงปริมาณด้วยAES ไม่สามารถทำได้
  • 2 : การตรวจสอบเชิงปริมาณด้วยAES สามารถทำได้ด้วยการตรวจสอบพื้นที่ใต้กราฟของพีคที่ได้จากกราฟแสดงความสัมพันธ์ระหว่าง N(E)กับ ความเข้ม (Intensity)
  • 3 : การตรวจสอบเชิงปริมาณด้วยAES สามารถทำได้ด้วยการตรวจสอบค่าสูงสุดและต่ำสุดของพีค(peak to peak height) ของ dN(E)/dEที่ได้จากกราฟแสดงความสัมพันธ์กับค่าความเข้ม
  • 4 : การตรวจสอบเชิงปริมาณสามารถทำได้ทั้งสารประกอบและธาตุ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 355 :
  • การตรวจสอบเชิงปริมาณด้วยวิธี X-ray Photoelectron Spectrometry สามารถทำได้หรือไม่ อย่างไร
  • 1 : ไม่สามารถตรวจสอบได้
  • 2 : สามารถตรวจสอบได้ แต่จะได้ค่าปริมาณของธาตุที่มีอยู่โดยไม่สามารถแยกแยะธาตุและสารประกอบออกจากกันได้
  • 3 : สามารถตรวจสอบได้เฉพาะธาตุเท่านั้น
  • 4 : สามารถตรวจสอบได้ แยกแยะปริมาณของสารที่มีว่าอยู่ในรูปธาตุและสารประกอบออกจากกันได้
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 356 :
  • ข้อใดกล่าวถูกต้องเกี่ยวกับรังสีเอกซ์และรังสีแกมมา
  • 1 : รังสีเอกซ์มีความสามารถในการทะลุทลวงสูงกว่ารังสีแกมมา จึงมักนำมาใช้ในการตรวจสอบวัสดุ
  • 2 : รังสีเอกซ์มีความสามารถในการทะลุทลวงน้อยกว่ารังสีแกมมา แต่สามารถควบคุมการเกิดขึ้นได้จึงนำมาใช้งานตรวจสอบวัสดุ
  • 3 : รังสีเอกซ์สามารถนำมาใช้งานในการตรวจสอบด้วยการถ่ายภาพได้ แต่รังสีแกมมาไม่สามารถนำมาใช้ได้
  • 4 : รังสีเอกซ์และรังสีแกมมาเป็นรังสีชนิดเดียวกัน
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 357 :
  • ข้อใดกล่าวถูกต้องเกี่ยวกับรังสีที่ใช้ในการวิเคราะห์ด้วยวิธี X-ray diffraction
  • 1 : ใช้รังสีเอกซ์ที่มีค่าความยาวคลื่นหลายค่า (continuous X-ray)
  • 2 : ใช้รังสีเอกซ์ที่มีค่าความยาวคลื่นเพียงค่าเดียว (characteristic X-ray)
  • 3 : ใช้รังสีเอกซ์ที่มีค่าความยาวคลื่นหลายค่า (continuous X-ray) และค่าความยาวคลื่นเพียงค่าเดียว (characteristic X-ray)
  • 4 : ใช้รังสีเอกซ์และรังสีแกมมาที่มีค่าความยาวคลื่นเพียงค่าเดียว (characteristic X-ray)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 358 :
  • เมื่ออิเล็กตรอนเปลี่ยนชั้นพลังงานจาก L มาเป็น K จะทำให้เกิด
  • 1 : รังสีแกมมา K alpha
  • 2 : รังสีแกมมา K beta
  • 3 : รังสีเอกซ์ K alpha
  • 4 : รังสีเอกซ์ K beta
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 359 :
  • การตรวจสอบวัสดุด้วยวิธี X-ray diffraction ต้องเตรียมชิ้นงานอย่างไร
  • 1 : เตรียมเป็นผงเท่านั้น
  • 2 : เตรียมเป็นชิ้นเท่านั้น
  • 3 : เตรียมอยู่ในรูปสารละลาย
  • 4 : เตรียมอยู่ในรูปแบบผงหรือชิ้นงานก็ได้
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 360 :
  • การตรวจสอบด้วยวิธี X-ray Diffraction สามารถแยกแยะวัสดุที่ต่างชนิดกันออกจากกันได้โดยอาศัยสมบัติข้อใดของวัสดุ
  • 1 : ระยะห่างระหว่างระนาบในโครงสร้างผลึกที่แตกต่างกัน
  • 2 : ความแตกต่างของความสามารถในการดูดซํบรังสีเอกซ์ที่ในแต่ละวัสดุ
  • 3 : ความแตกต่างของความสามารถในการสะท้อนของระสีเอกซ์ในแต่ละวัสดุ
  • 4 : ความแตกต่างของพลังงานของรังสีเอกซ์เฉพาะตัว (Characteristic X-ray) ในวัสดุแต่ละชนิด
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 361 :
  • การตรวจสอบด้วย Energy Dispersive Spectrometer และ Wavelength Dispersive Spectrometer ว่ามีธาตุอะไรบ้าง ทำได้โดยอาศํย
  • 1 : ระยะห่างระหว่างระนาบในโครงสร้างผลึกที่แตกต่างกัน
  • 2 : ความแตกต่างของความสามารถในการดูดซับรังสีเอกซ์ที่ในแต่ละวัสดุ
  • 3 : ความแตกต่างของความสามารถในการสะท้อนของระสีเอกซ์ในแต่ละวัสดุ
  • 4 : ความแตกต่างของพลังงานของรังสีเอกซ์เฉพาะตัว (Characteristic X-ray) ในวัสดุแต่ละชนิด
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 362 :
  • หากต้องการตรวจสอบปริมาณโครเมียมที่ละลายอยู่ในเหล็ก และปริมาณโครเมียมที่ตกตะกอนเป็นเฟสที่สองในเหล็กชิ้นงานเดียวกัน ควรใช้วิธีใด จึงจะสามารถแยกแยะโครเมียมทั้งสองอย่างออกจากกันได้
  • 1 : กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน(Transmission Electron Microscope)
  • 2 : Spark Emission Spectrometer
  • 3 : X-ray Photoelectron Spectrometer
  • 4 : กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกวาด (Scanning Electron Microscope)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 363 :
  • หากต้องการตรวจสอบปริมาณของความผิดปกติในผลึก(Dislocation)จะใช้วิธีใด
  • 1 : กล้องจุลทรรศน์แสง
  • 2 : กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกวาด(Scanning Electron Microscope)
  • 3 : กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (Transmission Electron Microscope)
  • 4 : ตรวจสอบด้วยภาพถ่ายจากรังสีเอกซ์
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 364 :
  • การตรวจสอบความผิดปกติในผลึก (dislocation) โดยการถ่ายภาพ จะสามารถมองเห็นความผิดปกติในผลึกได้โดยอาศัย
  • 1 : ความแตกต่างที่เกิดจากเฟส (phase contrast)
  • 2 : ความแตกต่างที่เกิดจากความหนา (thickness contrast)
  • 3 : ความแตกต่างที่เกิดจากการเลี้ยวเบน (diffraction contrast)
  • 4 : ความแตกต่างจากรังสีเอกซ์ (X-ray contrast)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 365 :
  • วิธีใดบ้างที่ใช้ในการตรวจสอบโครงสร้างผลึกได้
  • 1 : พลังงานของรังสีเอกซ์ใน Energy Dispersive Spectrometer
  • 2 : พลังงานของรังสีเอกซ์ใน Wavelength Dispersive Spectrometer
  • 3 : ผลที่วัดได้จากเครื่อง X-ray Fluoresence
  • 4 : Electron Diffraction Pattern จากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกวาด (Transmission Electron Microscope)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 366 :
  • การหักเหของอิเล็กตรอนที่ทะลุผ่านเนื้อวัสดุมีประโยชน์อย่างไร
  • 1 : สามารถเพิ่มการทะลุทลวงในเนื้อวัสดุ
  • 2 : ช่วยลดอุณหภูมิของวัสดุขณะตรวจสอบ
  • 3 : ช่วยให้ทราบถึงโครงสร้างผลึกของวัสดุ
  • 4 : ช่วยลดพลังงานในการใช้เร่งอิเล็กตรอน
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 367 :
  • ความดันในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (Transmission Electron) ควรเป็นอย่างไร เพราะอะไร
  • 1 : ความดันต่ำ เพื่อเพิ่มปริมาณของอิเล็กตรอนที่ชนกับชิ้นงาน
  • 2 : ความดันต่ำ เพื่อลดการกระเจิงของอิเล็กตรอนที่เกิดจากการชนของอิเล็กตรอนกับอะตอมของก๊าซ
  • 3 : ความดันสูง เพื่อเพิ่มความเข้มของรังสีเอกซ์จะใช้ในการวิเคราะห์
  • 4 : ความดันปกติ เพื่อความสะดวกในการทำงาน
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 368 :
  • การตรวจสอบโครงสร้างเพื่อยืนยันชนิดของเฟสที่สองขนาดเล็กระดับนาโนเมตรที่ตกผลึกในเนื้อวัสดุ ควรใช้เทคนิคใดในการตรวจสอบ
  • 1 : X-ray Photoelectron Spectrometer
  • 2 : ภาพถ่ายจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกวาด (Scanning Electron Microscope)
  • 3 : Electron Diffraction pattern จากชิ้นงานที่ทำด้วยเทคนิค replicaจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน(Transmission Electron Microscope)
  • 4 : X-ray Fluoresence
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 369 :
  • Kikuchi pattern สามารถสร้างได้จากเครื่องมือวิเคราะห์ใด
  • 1 : กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (Transmission Electron Microscope)
  • 2 : กล้องจุลทรรศน์แสง
  • 3 : X-ray Diffractrometer
  • 4 : X-ray Photoelectron spectrometer
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 370 :
  • Kikuchi Pattern สามารถให้ข้อมูลใดได้บ้าง
  • 1 : โครงสร้างมหภาค
  • 2 : โครงสร้างจุลภาค
  • 3 : โครงสร้างผลึก
  • 4 : ขนาดเกรน
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 371 :
  • ข้อมูลใดต่อไปนี้สามารถบอกได้จาก Electron Channeling Pattern
  • 1 : โครงสร้างจุลภาค
  • 2 : โครงสร้างมหภาค
  • 3 : โครงสร้างผลึก
  • 4 : ขนาดของผลึก
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 372 :
  • ในการตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (Transmission Electron Microscope) ที่ Back Focal Plane จะเกิดภาพอะไร และให้ข้อมูลอะไร
  • 1 : ได้ภาพถ่ายแบบ dark field image โดยจะแสดงถึงโครงสร้างจุลภาค
  • 2 : ได้ภาพถ่ายแบบ bright field image โดยจะแสดงถึงโครงสร้างจุลภาค
  • 3 : ได้ภาพของ electron diffraction pattern แสดงถึงโครงสร้างผลึกและชนิดของวัสดุ
  • 4 : ได้ภาพถ่ายที่แสดงถึงปริมาณของส่วนผสมที่บริเวณต่างๆ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 373 :
  • ภาพถ่ายแบบใดได้จากลำอิเล็กตรอนที่หักเหในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน(Transmission Electron Microscope)
  • 1 : electron diffraction pattern
  • 2 : bright field image
  • 3 : dark field image
  • 4 : back focal image
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 374 :
  • electron diffraction pattern ของชิ้นงานที่มีผลึกเดียวจะมีลักษณะอย่างไร
  • 1 : เป็นเส้นรูปร่างสี่เหลี่ยม
  • 2 : เป็นเส้นวงกลม
  • 3 : เป็นจุดหลายจุดกระจายอย่างมีแบบแผน
  • 4 : เป็นเส้นรูปร่างหกเหลี่ยม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 375 :
  • เมื่อตรวจสอบด้วย Energy Dispersive Spectrometer (EDS) จะมีความลึกจากผิวที่ตรวจสอบลงไปในเนื้อชิ้นงานประมาณเท่าไร
  • 1 : 1-2 นาโนเมตร
  • 2 : 10-15 นาโนเมตร
  • 3 : 1-2 ไมโครเมตร
  • 4 : 1-2 มิลลิเมตร
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 376 :
  • ในการตรวจสอบด้วยวิธีใดสามารถให้ภาพที่แสดงรายละเอียดระดับอะตอมได้ โดยแสดง lattice image
  • 1 : กล้องจุลทรรศน์แสง
  • 2 : กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกวาด (Scanning Electron Microscope)
  • 3 : กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (Transmission Electron Microscope)
  • 4 : กล้องจุลทรรศน์ทุกแบบ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 377 :
  • ข้อใดไม่ใช่เหตุผลที่เลือกใช้รังสีเอกซ์ K alpha ในการตรวจสอบด้วยเทคนิค X-ray Diffraction
  • 1 : รังสีเอกซ์ K alpha มีความเข้มมากกว่า รังสีเอกซ์ K beta
  • 2 : สามารถกรองรังสีเอกซ์ K beta ได้
  • 3 : รังสีเอกซ์ K alpha มีความแตกต่างของความยาวคลื่นน้อยกว่า รังสีเอกซ์ K beta
  • 4 : พลังงานที่ใช้ในการเกิดรังสีเอกซ์ K alpha ต่ำกว่า
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 378 :
  • ข้อใดไม่ช่วยให้เกิดความแตกต่างของความความดำในภาพถ่าย(contrast) ที่ได้จากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน
  • 1 : มุมของการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอน
  • 2 : สีของวัสดุ
  • 3 : ชนิดของอะตอมในชิ้นงาน
  • 4 : ความหนาของชิ้นงาน
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 379 :
  • เมื่อใช้รังสีเอกซ์ชนิด Cu K-alpha ที่มีความยาวคลื่น 1.54 อังสตรอมตรวจสอบชิ้นงานด้วยเทคนิค XRD จะสามารถตรวจสอบวัสดุที่มีระยะระหว่างเพลน (interplanar spacing ) ต่ำที่สุดได้เท่าไร
  • 1 : 0.30
  • 2 : 0.51
  • 3 : 0.77
  • 4 : 1.54
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 380 :
  • การลด working distance ในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกวาด (SEM) จะทำให้
  • 1 : ลำอิเล็กตรอนมีเส้นผ่านศูนย์กลางลดลง
  • 2 : ความยาวคลื่นของอิเล็กตรอนลดลง
  • 3 : ความต่างศักย์ที่ใช้ในการเร่งอิเล็กตรอนลดลง
  • 4 : ไม่เกิดการเปลี่ยนแปลงใดๆ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 381 :
  • ระนาบใดที่จะไม่ปรากฏ electron diffraction pattern ของอะลูมิเนียมที่มีโครงสร้างแบบ เฟซเซนเตอร์ คิวบิก (FCC)
  • 1 : 100
  • 2 : 111
  • 3 : 200
  • 4 : 311
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 382 :
  • ระนาบใดที่ปรากฏ electron diffraction pattern ของอะลูมิเนียมที่มีโครงสร้างแบบ บอดีเซนเตอร์ คิวบิก (BCC)
  • 1 : 100
  • 2 : 111
  • 3 : 200
  • 4 : 210
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 383 :
  • ข้อใดกล่าวถูกต้องเกี่ยวกับ resolution ของกล้องจุลทรรศน์
  • 1 : Resolution ของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกวาด (SEM) ดีกว่ากล้องจุลทรรศน์แสง (OM) เนื่องจากแสงมีความยาวคลื่นสั้นกว่าอิเล็กตรอน
  • 2 : Resolution ของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกวาด (SEM) เมื่อถ่ายภาพโดยอาศัยความแตกต่างของส่วนผสม (composition contrast) จะสูญเสียไปถ้าตรวจสอบวัสดุที่มีเลขอะตอมใกล้เคียงกัน
  • 3 : Resolution ของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกวาด (SEM) จะดีขึ้นเมื่อขยายลำอิเล็คตรอนให้มีขนาดใหญ่
  • 4 : Resolution ของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกวาด (SEM) จะดีที่สุดเมื่อมีความยาวคลื่นใกล้เคียงกับความยาวคลื่นแสง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 384 :
  • ในวัสดุที่มีเกรนเล็กขนาดนาโน เมื่อตรวจสอบด้วย การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ (X-ray diffraction) ผลที่ได้จะแตกต่างจากวัสดุที่มีเกรนขนาดใหญ่อย่างไร
  • 1 : มีค่าความเข้มของรังสีเอ็กซ์ที่ตรวจสอบได้สูงกว่ามาก
  • 2 : มีค่าความกว้างของยอดกราฟ(peak)ที่ครึ่งหนึ่งของความสูง (full width half max, FWHM) มาก
  • 3 : มีการเลื่อนตำแหน่งของยอดกราฟ (peak) ที่ตรวจสอบได้
  • 4 : ไม่มีลักษณะที่แตกต่างกัน
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 385 :
  • การวิเคราะห์ผลจากกราฟที่ตรวจสอบวัสดุด้วยวิธีการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ (X-ray diffraction) จะไม่สามารถให้ข้อมูลในเรื่องใดได้
  • 1 : ปริมาณของตัวถูกละลายในสารละลายของแข็ง
  • 2 : ขนาดของผลึก
  • 3 : ชนิดของวัสดุที่มีโครงสร้าง
  • 4 : ชนิดของวัสดุอสัณฐาน (amorphous)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 386 :
  • ข้อใดสามารถบ่งบอกถึง electron diffraction pattern ของวัสดุได้
  • 1 : ผลึกส่วนกลับ (reciprocal lattice)
  • 2 : อีวาลด์สเฟีย (Ewald sphere)
  • 3 : อีวาลด์สเฟีย (Ewald sphere)และผลึกส่วนกลับ (reciprocal lattice)
  • 4 : ขนาดของอะตอม
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 387 :
  • เมื่อต้องการตรวจสอบความต่อเนื่องของอะตอมในผลึกควรเลือกใช้เครื่องมือใดต่อไปนี้ เพราะเหตุผลใด
  • 1 : กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกวาด (SEM) เพราะมีกำลังขยายสูง
  • 2 : กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM) เพราะสามารถถ่ายภาพที่มี resolution สูงมากได้
  • 3 : เครื่องตรวจสอบการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ (X-ray diffractometer) เพราะบอกโครงสร้างผลึกได้
  • 4 : การถ่ายภาพด้วยรังสีเอกซ์
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 388 :
  • การเพิ่มความต่างศักย์ในการเร่งอิเล็กตรอนในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนทำให้เกิดผลหลายอย่างยกเว้น
  • 1 : เพิ่มขนาดของอันตรกริยา(interaction volume)
  • 2 : ลดความยาวคลื่นของอิเล็กตรอน
  • 3 : เพิ่ม resolution
  • 4 : เพิ่มจำนวนอิเล็กตรอน
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 389 :
  • การตรวจสอบโดยใช้โฟโตอิเล็กตรอน (X-ray Photoelectron Spectrometry,XPS)แตกต่างการตรวจสอบด้วย (Auger Electron Spectrocopy,AES) ในเรื่องใด
  • 1 : การตรวจสอบผิวบางของชิ้นงาน
  • 2 : พลังงานของอิเล็กตรอนที่ใช้ในการตรวจสอบธาตุและสารประกอบจะแตกต่างกันตามชนิดของอิเล็กตรอน
  • 3 : ภาพถ่ายที่ได้จากการตรวจสอบแตกต่างกัน
  • 4 : ชิ้นงานจะถูกทำลายเมื่อตรวจสอบโดยใช้โฟโตอิเล็กตรอน (XPS)แต่ไม่ถูกทำลายเมื่อตรวจสอบด้วย (AES)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 390 :
  • ภาพ electron diffraction pattern นี้แสดงถึงโครงสร้างผลึกของวัสดุว่า
  • 1 : เป็นวัสดุผลึกเดี่ยวที่มีโครงสร้างผลึกแบบ FCC
  • 2 : เป็นวัสดุหลายผลึกที่มีโครงสร้างผลึกแบบ FCC
  • 3 : เป็นวัสดุที่ไม่มีโครงผลึก
  • 4 : ไม่สามารถบอกโครงสร้างผลึกของวัสดุได้จาก electron diffraction pattern
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 391 :
  • ภาพ electron diffraction pattern ต่อไปนี้แสดงข้อมูลใดของวัสดุ
  • 1 : เป็นวัสดุผลึกเดี่ยว
  • 2 : เป็นวัสดุหลายผลึก
  • 3 : เป็นวัสดุแบบอสัณฐาน หรือ อะมอฟัส
  • 4 : ไม่สามารถแสดงข้อมูลใดได้
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 392 :
  • วัสดุที่เป็นผลึกเดี่ยวจะมี electron diffraction pattern แบบใด
  • 1 :
  • 2 :
  • 3 :
  • 4 : ไม่มีรูปแบบของ electron diffraction pattern ที่แน่นอน
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 393 :
  • เมื่อเพิ่มความต่างศักย์ในการเร่งอิเล็กตรอน (accelerated voltage) ในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนจะทำให้เกิดสิ่งใดขึ้น
  • 1 : ความยาวคลื่นของลำอิเล็กตรอนยาวขึ้น
  • 2 : ขนาดของอันตรกริยาเพิ่มขึ้น
  • 3 : ขนาดของลำอิเล็กตรอนใหญ่ขึ้น
  • 4 : ไม่เกิดอะไรขึ้น
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 394 :
  • ในการตรวจสอบวัสดุด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน เลขอะตอมของวัสดุเพิ่มขึ้นจะมีผลต่อขนาดของอันตรกริยา(interaction volume) อย่างไร
  • 1 : ขนาดของอันตรกริยา(interaction volume) เล็กลง
  • 2 : ขนาดของอันตรกริยา(interaction volume) ใหญ่ขึ้น
  • 3 : ขนาดของอันตรกริยา(interaction volume) เท่าเดิม
  • 4 : ไม่สามารถบอกได้เนื่องจากไม่มีความสัมพันธ์ระหว่าง ขนาดของอันตรกริยา(interaction volume) กับเลขอะตอมของวัสดุ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 1
ข้อที่ 395 :
  • การสร้าง Kikuchi pattern สามารถทำได้โดยใช้เครื่องมือใด
  • 1 : กล้องจุลทรรศน์แสง
  • 2 : กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบกวาด (Scanning Electron Microscope,SEM)
  • 3 : กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (Transmission Electron Microscope,TEM)
  • 4 : เครื่องตรวจสอบการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ (X-ray Diffractometer)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 396 :
  • Kikuchi pattern สามารถบอกข้อมูลใดได้หลายอย่าง ยกเว้น
  • 1 : ขนาดของโครงผลึก
  • 2 : ชนิดของโครงผลึก
  • 3 : ชนิดของวัสดุที่มีโครงสร้าง
  • 4 : ชนิดของวัสดุอสัณฐาน
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 4
ข้อที่ 397 :
  • การตรวจสอบฟิล์มบางระดับนาโนเมตรบนผิวชิ้นงานควรเลือกใช้ทคนิคใด
  • 1 : การตรวจสอบพลังงานของออเจอิเล็กตรอน
  • 2 : การตรวจสอบพลังงานของโฟโตอิเล็กตรอน
  • 3 : การตรวจสอบพลังงานของออเจอิเล็กตรอนและโฟโตอิเล็กตรอน
  • 4 : การตรวจสอบพลังงานของรังสีเอกซ์แบบเฉพาะตัว (characteristic x-ray)
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 398 :
  • ในการตรวจสอบธาตุในวัสดุด้วยรังสีเอกซ์เฉพาะตัว (characteristic x-ray) โดยตรวจสอบจากความยาวคลื่น (Wavelength Dispersive Spectrometry,WDS) และพลังงาน (Energy Dispersive Spectrometry,EDS) จะมีข้อแตกต่างกันอย่างไร
  • 1 : ขนาดของอันตรกริยาของการตรวจสอบจากความยาวคลื่น (Wavelength Dispersive Spectrometry,WDS)เล็กกว่าทำให้ตรวจสอบได้แม่นกว่า
  • 2 : ขนาดของอันตรกริยาของการตรวจสอบจากพลังงาน (Energy Dispersive Spectrometry,EDS)เล็กกว่าทำให้ตรวจสอบได้แม่นกว่า
  • 3 : ช่วงของพลังงานที่ตรวจสอบได้เป็นช่วงกว้างมากกว่าช่วงของความยาวคลื่นที่ตรวจสอบได้จากธาตุใดๆทำให้การตรวจสอบด้วย พลังงาน (Energy Dispersive Spectrometry,EDS) มีความแม่นยำน้อยกว่า
  • 4 : ช่วงของพลังงานที่ตรวจสอบได้เป็นช่วงแคบกว่าช่วงของความยาวคลื่นที่ตรวจสอบได้จากธาตุใดๆทำให้การตรวจสอบด้วย พลังงาน (Energy Dispersive Spectrometry,EDS) มีความแม่นยำมากกว่า
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 3
ข้อที่ 399 :
  • ข้อใดเป็นข้อได้เปรียบของการตรวจสอบธาตุจากรังสีเอกซ์แบบเฉพาะตัว (Characteristic x-ray)โดยใช้พลังงานของรังสีเอกซ์ (Energy Dispersive Spectrometry,EDS)
  • 1 : ตรวจสอบได้แม่นยำกว่าการใช้ความยาวคลื่น (Wavelength Dispersive Spectrometry,WDS)
  • 2 : ตรวจสอบได้เร็วกว่าการใช้ความยาวคลื่น (Wavelength Dispersive Spectrometry,WDS)
  • 3 : ตรวจสอบได้จำนวนธาตุหลากหลายกว่าการใช้ความยาวคลื่น (Wavelength Dispersive Spectrometry,WDS)
  • 4 : ไม่มีข้อแตกต่าง
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
ข้อที่ 400 :
  • เทคนิค ZAF ใน Energy Dispersive Spectrometer (EDS) ใช้เพื่ออะไร
  • 1 : คำนวณหาปริมาณสารประกอบในวัสดุ
  • 2 : คำนวณหาปริมาณธาตุในวัสดุ
  • 3 : คำนวนหาสัดส่วนโดยปริมาตรของแต่ละเฟสในวัสดุ
  • 4 : คำนวนหาสัดส่วนโดยพื้นที่ของแต่ละเฟสในวัสดุ
  • คำตอบที่ถูกต้อง : 2
สภาวิศวกร